自动测试设备、被测设备、测试装置、使用测量请求的方法制造方法及图纸

用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备被配置为从被测设备接收请求测量一个或多个物理量的命令。自动测试设备被配置为响应于被测设备提供的命令，执行或启动一个或多个物理量的测量，以及自动测试设备被配置为向被测设备提供测量结果信令，从而发信号通知被测设备请求的测量结果。还描述了被测设备、方法和计算机程序。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

根据本专利技术的实施例涉及用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备。根据本专利技术的其他实施例涉及被测设备。根据本专利技术的其他实施例涉及测试装置。根据本专利技术的其他实施例涉及用于操作自动测试设备的方法。根据本专利技术的其他实施例涉及用于测试被测设备的方法。根据本专利技术的其他实施例涉及计算机程序。一般来说，根据本专利技术的实施例涉及通过片上系统测试的生产测试仪控制。

技术介绍

1、自动测试设备(automated test equipment，ate)是用于生产测试和后硅验证的平台，可快速自动执行测试用例并灵活控制被测设备(device under test，dut)的外部测试条件。

2、数字集成电路的生产测试传统上是在ate上通过结构测试完成的。将循环精确输入模式应用于被测设备(dut)，并通过比较结果输出模式与预期模式，检测出故障设备。

3、dut的内部结构正在向复杂的片上系统(soc)设备发展，这些设备包含具有由片上网络结构互连的多处理器、存储器和外设单元的许多子系统。即使结构测试的覆盖率达到99.5％，这些soc中仍有数本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测试一个或多个被测设备(310；350；1030；1130；1330；1430；1530；1630)的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

2.根据权利要求1所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

3.根据权利要求1至2之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

4.根据权利要求1至3之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于测试一个或多个被测设备(310；350；1030；1130；1330；1430；1530；1630)的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

2.根据权利要求1所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

3.根据权利要求1至2之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

4.根据权利要求1至3之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

5.根据权利要求1至4之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

6.根据权利要求1至5之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

7.根据权利要求1至6之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

8.根据权利要求7所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

9.根据权利要求7或8所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

10.根据权利要求1至9之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

11.根据权利要求1至10之一所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

12.根据权利要求11所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

13.根据权利要求11或12所述的自动测试设备(300；1010；1110；1310；1410；1510；1610)，

14.根据权利要求11至13之一所述的自动测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员：克劳斯迪特·希里格斯，马库斯·布克尔，马库斯·舒尔茨韦斯滕霍斯特，奥拉夫·珀普，托马斯·格罗斯，
申请(专利权)人：爱德万测试集团，
类型：发明
国别省市：