【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种校准设备,尤其涉及一种适用于内径千分尺的校准设备。
技术介绍
1、对于现有的工件生产加工来看,对于一些环状的工件,均需要通过内径千分尺来实现其内径的精确测量。
2、具体来说,内径千分尺是一种精度非常高的测量内孔尺寸的量具。其在测量之前,为了使测量精确,通常需要实用环规来进行校准。并且,环规的精度很高,且针对于轴承(工件)的外径尺寸,都需要配置相对应的环规规格。
3、但是,目前环规的规格基本上是以10mm设定一个规格差距,每测量一种直径规格的内孔,都需要有相应的环规来校准千分尺的精度。这样,针对不同直径的内孔,都需要不同的环规来校准,并且,针对一些特定直径的孔,没有相应的环规可以校准,需要进行定制,增大了使用成本。
4、简单来说,目前的测量使用期间,需要针对不同的内孔规格,选配若干个独立的环规。使用期间,需要准备环规的数量多,操作繁琐,且实施成本高。
5、有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种适用于内径千分尺的校准设备,使其更具有产业上的利用价值。
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【技术保护点】
1.适用于内径千分尺的校准设备,包括有底座,其特征在于:所述底座上安装有角度调节装置,所述角度调节装置上安装有导向装置,所述导向装置的一端安装有基准调节装置,所述基准调节装置上连接有内径千分尺;
2.根据权利要求1所述的适用于内径千分尺的校准设备,其特征在于:所述底座通过旋紧螺栓连接有托架,所述托架与导向装置的底部相连。
3.根据权利要求1所述的适用于内径千分尺的校准设备,其特征在于:所述基准调节装置包括有与横梁侧边相连的固定块,所述固定块与内径千分尺之间夹持有第二精密基准块,所述第二精密基准块的两侧,分别夹持有第一精密基准块、第三精密基准块,
...【技术特征摘要】
1.适用于内径千分尺的校准设备,包括有底座,其特征在于:所述底座上安装有角度调节装置,所述角度调节装置上安装有导向装置,所述导向装置的一端安装有基准调节装置,所述基准调节装置上连接有内径千分尺;
2.根据权利要求1所述的适用于内径千分尺的校准设备,其特征在于:所述底座通过旋紧螺栓连接有托架,所述托架与导向装置的底部相连。
3.根据权利要求1所述的适用于内径千分尺的校准设备,其特征在于:所述基准调节装置包括有与横梁侧边相连的固定块,所述固定块与内径千分尺之间夹持有第二精密基准块,所述第二精密基准块的两侧,分别夹持有第一精密基准块、第三精密基准块,所述第一精密基准块、第三精密基准块分别与主精密齿条板与副精密齿条板相连。
4.根据权利要求3所述的适用于内径千分尺的校准设备,其特征在于:所述第一精密基准块、第三精密基准块均分布有接触齿面,所述内径千分尺与接触齿面接触。
【专利技术属性】
技术研发人员:邱丙东,杨传启,
申请(专利权)人:苏州格源数控科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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