【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种基于bic的灵敏度可调波导谐振腔复介电常数测量装置及其应用,属于微波器件工程。
技术介绍
1、介电常数是表征材料电磁特性的关键参数,其准确测量对于材料科学、电子工程、生物医学以及化学工程等领域至关重要。在评估材料的绝缘性能、介电性能以及在高频应用中的稳定性时,损耗正切的准确测量显得尤为关键。损耗正切不仅影响材料的介电损耗,还直接关系到电子设备的工作频率、信号传输质量以及系统的能效比。因此,能够精确测量损耗正切的介电常数测量技术,对于推动材料科学的进步和提升设备性能至关重要。
2、目前,介电常数测量技术已经取得了一定的进展,包括电容法、自由空间法、谐振腔法和传输反射法等。这些技术在特定条件下能够提供相对准确的测量结果。然而,随着材料科学和电子工程的快速发展,对测量技术的要求也越来越高。现有的测量技术在面对损耗正切横跨多个数量级的众多介质时,往往存在一定的局限性。单一方法在测量高损耗正切介质时表现出色,但在测量低损耗正切介质时则不够敏感或准确。总之,现有技术在测量介质损耗时,难以兼顾测量的灵敏度、准确性和测量范
...【技术保护点】
1.一种基于BIC的灵敏度可调波导谐振腔复介电常数测量装置,其特征在于,包括矩形波导、长方体谐振腔、耦合狭缝、过渡波导和波同转换器;其中,耦合狭缝位于矩形波导上方;矩形波导和长方体谐振腔通过耦合狭缝耦合;过渡波导用于将矩形波导和波同转换器连接。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述矩形波导内部矩形截面尺寸为a1×b1,内部长度为c1,用于生成电场方向沿z方向的本征模式;
3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,通过调节长方体谐振腔中心关于耦合狭缝的偏移距离为d控制所述矩形波导和长方体谐振腔本征模式之间的耦合强度,以此控制BI
...【技术特征摘要】
1.一种基于bic的灵敏度可调波导谐振腔复介电常数测量装置,其特征在于,包括矩形波导、长方体谐振腔、耦合狭缝、过渡波导和波同转换器;其中,耦合狭缝位于矩形波导上方;矩形波导和长方体谐振腔通过耦合狭缝耦合;过渡波导用于将矩形波导和波同转换器连接。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述矩形波导内部矩形截面尺寸为a1×b1,内部长度为c1,用于生成电场方向沿z方向的本征模式;
3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,通过调节长方体谐振腔中...
【专利技术属性】
技术研发人员:傅涛,杨宇航,杨中杰,黄日声,
申请(专利权)人:桂林电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。