【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据存储，更具体地说，本专利技术涉及一种存储设备ldpc纠错能力测试方法。
技术介绍
1、主控芯片和闪存颗粒是存储设备重要组成部分。在使用过程中，需要主控芯片中的纠错算法保障闪存数据可靠性，从而延长存储设备的使用寿命，目前存储设备上主流的纠错算法是ldpc纠错算法，ldpc纠错算法包含两种，一种是硬判决，一种是软判决。硬判决耗时短，但是解码能力弱，软判决解码能力强，但是耗时较长，一般存储设备中会先采用硬判决，如果纠不回来，会进行软判决。ldpc纠错能力直接影响存储设备的使用寿命，而目前现有技术中缺少对存储设备上关于ldpc纠错能力进行测试的方法。
2、因此，专利技术一种存储设备ldpc纠错能力测试方法来解决上述问题很有必要。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的上述缺陷，本专利技术提供一种存储设备ldpc纠错能力测试方法，来解决上述
技术介绍
中提出的现有技术中缺少对存储设备上关于ldpc纠错能力进行测试的方法的问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术提供...
【技术保护点】
1.存储设备LDPC纠错能力测试方法，包括硬判决纠错能力测试方法和软判决纠错能力测试方法，其特征在于：所述硬判决纠错能力测试方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的存储设备LDPC纠错能力测试方法，其特征在于：所述步骤S1中的擦除操作和写操作可以是SLC模式也可以是最高模式，所述擦除操作和写操作的模式需要保持一致，后面的读操作同理，SLC闪存颗粒最高模式是SLC模式，MLC闪存颗粒最高模式是MLC模式，TLC闪存颗粒最高模式是TLC模式，QLC闪存颗粒最高模式是QLC模式。
3.根据权利要求2所述的存储设备LDPC纠错能力测试方法，其特征在...
【技术特征摘要】
1.存储设备ldpc纠错能力测试方法，包括硬判决纠错能力测试方法和软判决纠错能力测试方法，其特征在于：所述硬判决纠错能力测试方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的存储设备ldpc纠错能力测试方法，其特征在于：所述步骤s1中的擦除操作和写操作可以是slc模式也可以是最高模式，所述擦除操作和写操作的模式需...
【专利技术属性】
技术研发人员：万婷，祝志雄，刘国玉，马晖，
申请(专利权)人：北京泽石科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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