【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及平整度测量，尤其涉及一种办公桌板平整度缺陷测量方法、介质及设备。
技术介绍
1、在办公桌的生产制造过程中，随着科技的日益发展，对于品控的要求越来越高。其中，办公桌板作为办公桌中用户最看重的部件之一，其平整度最影响用户的体验。
2、传统技术中，对于桌面的平整度测量，大多采用机械装置，比如公开号为cn207976105u、cn214010202u的中国专利申请。但在使用过程中，技术人员发现该些机械装置中滑动部位的配合精度直接影响了平整度测量的精度，并且通过肉眼读取刻度也存在较大的误差。
3、因而，在此基础上，技术人员开发了基于图像处理的平整度测量方法，如公开号为cn113310438a的中国专利申请。该申请通过获取包括有若干条等距排布的线状条纹的初始条纹图像；并将初始条纹图像投影至待测表面，使原本缺少纹理信息及几何结构的待测墙面，会因为待测墙面中的凸出部或凹陷部而使投影在墙面上的条纹投影图像中的条纹出现畸变，进而在待测墙面形成携带用深度信息的条纹投影图像，通过采集该条纹投影图像；并根据条纹投影图像中的条...
【技术保护点】
1.一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，所述S3中，相对亮度的测量方法如下：
3.根据权利要求2所述的一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，所述至少三处光源位置在同一高度上，并且呈环形阵列分布，所述环形阵列的中心位于办公桌板中心的正上方。
4.根据权利要求2所述的一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，所述S3中，根据所述相对亮度将第一区域区分为背光区、...
【技术特征摘要】
1.一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，所述s3中，相对亮度的测量方法如下：
3.根据权利要求2所述的一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，所述至少三处光源位置在同一高度上，并且呈环形阵列分布，所述环形阵列的中心位于办公桌板中心的正上方。
4.根据权利要求2所述的一种可投射缺陷区域图案的办公桌板平整度缺陷测量方法，其特征在于，所述s3中，根据所述相对亮度将第一区域区分为背光区、面光区和平面区的方法如下：
5.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：钱爱君，厉权贯，尹若君，陈超峰，戚芳芳，姜茵茵，
申请(专利权)人：圣奥科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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