存储装置的测试方法、装置及设备、存储介质、程序产品制造方法及图纸

技术编号:44558423 阅读:30 留言:0更新日期:2025-03-11 14:19
本申请实施例提供一种存储装置的测试方法、装置及设备、存储介质、程序产品。该存储装置的测试方法包括:获取芯片中的目标存储装置的功能代码文件,以及获取目标存储装置的存储属性信息;目标存储装置用于存储芯片的运算数据,目标存储装置的功能代码文件用于模拟目标存储装置的存储功能;获取与目标存储装置相适配的功能测试模板;根据目标存储装置的存储属性信息,对与目标存储装置相适配的功能测试模板进行调整,得到目标存储装置对应的功能测试文件;根据目标存储装置的功能测试文件和目标存储装置的功能代码文件,对目标存储装置的存储功能进行测试。采用本申请实施例,可以降低芯片中存储装置的测试复杂度,提升芯片中存储装置的测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及计算机,尤其涉及一种存储装置的测试方法、一种存储装置的测试装置、一种计算机设备、一种计算机可读存储介质、以及一种计算机程序产品。


技术介绍

1、在对芯片正式投入批量生产之前,需要对芯片中各个功能模块的功能进行测试,在测试芯片中各个功能模块的功能完全正确后,便可以对芯片正式投入批量生产。存储装置(也可以称为存储封装器(memory wrapper))是芯片中的一个功能模块,目前,对芯片中存储装置的存储功能的测试方式为:针对芯片中的每个存储装置分别由人工生成对应的功能测试文件,通过每个存储装置对应的功能测试文件,对每个存储装置的存储功能进行测试。这样的测试方式在芯片中包含大量的存储装置时,会导致芯片中存储装置的测试复杂度高,芯片中存储装置的测试效率低。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种存储装置的测试方法、装置及设备、存储介质、程序产品,可以降低芯片中存储装置的测试复杂度,提升芯片中存储装置的测试效率。

2、一方面,本申请实施例提供了一种存储装置的测试方法,该存储装置的测试方法包括:<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储装置的测试方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述功能测试模板包括测试环境模板和测试激励模板;所述目标存储装置的功能测试文件包括根据所述目标存储装置的存储属性信息对所述测试环境模板调整得到的测试环境文件,以及根据所述目标存储装置的存储属性信息对所述测试激励模板调整得到的测试激励文件;

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标存储装置的功能测试文件和所述目标存储装置的功能代码文件,对所述目标存储装置的存储功能进行测试,包括:

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,需要测试的所述目标存储装置的存储...

【技术特征摘要】

1.一种存储装置的测试方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述功能测试模板包括测试环境模板和测试激励模板;所述目标存储装置的功能测试文件包括根据所述目标存储装置的存储属性信息对所述测试环境模板调整得到的测试环境文件,以及根据所述目标存储装置的存储属性信息对所述测试激励模板调整得到的测试激励文件;

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标存储装置的功能测试文件和所述目标存储装置的功能代码文件,对所述目标存储装置的存储功能进行测试,包括:

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,需要测试的所述目标存储装置的存储功能包括n种类型,每种类型分别对应各自的测试环境文件和测试激励文件,所述n种类型中的任一种类型表示为第i种类型,n为正整数,i为小于或等于n的正整数;

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标存储装置的存储属性信息包括接口信息,所述接口信息用于指示所述目标存储装置在读写所述运算数据时允许使用的接口数量;所述获取与所述目标存储装置相适配的功能测试模板,包括:

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,与所述目标存储装置相适配的功能测试模板包括待配置参数值的参数;所述根据所述目标存储装置的存储属性信息,对与所述目标存储装置相适配的功能测试模板进行调...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨宇超
申请(专利权)人:腾讯科技深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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