【技术实现步骤摘要】
本申请涉及pcb电镀工艺数据处理,尤其涉及一种对压板电镀铜厚控制方法、系统、设备及介质。
技术介绍
1、随着光模块产品工作环境的频率越来越高,光模块产品的阻抗公差越来越严格,叠层设计空间也是越来越窄、越来越复杂(如进行组合对压、机械半孔埋孔接地等),如何提升pcb板在图形转移之前的铜厚质量,以改善其后的图形转移制作时阻抗的稳定性控制,成为一个行业遇到的问题。
2、目前传统的对压板铜厚控制,从开料到图形转移前需要进行多次镀铜、微蚀减铜、研磨等,这对pcb铜箔上的铜厚控制是严重不利的,传统流程中,从开料到图形转移前的铜厚r值大概会超过0.4mil,此铜厚r值根本不利于阻抗的控制,因此在pcb板制造过程中需要严格控制对压板铜厚,而现有对压板铜厚控制方法精确度低,测量误差较大,导致影响产品质量。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种对压板电镀铜厚控制方法、系统、设备及介质,旨在解决现有对压板铜厚控制方法精确度低的技术问题。
2、为实现上述目的,本申请提供一种对压板
...【技术保护点】
1.一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,所述获取所述电镀铜层的厚度均匀度,包括:
3.如权利要求2所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,设所述厚度均匀度为Q,Q的表达式为:
4.如权利要求2或3所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,所述获取每个所述待测区域中对应的所述电镀铜层的检测厚度H',包括:
5.如权利要求4所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,所述根据所述初始测量点,获取所述待测区域中的最高测量点和最低测量点
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【技术特征摘要】
1.一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,所述获取所述电镀铜层的厚度均匀度,包括:
3.如权利要求2所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,设所述厚度均匀度为q,q的表达式为:
4.如权利要求2或3所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,所述获取每个所述待测区域中对应的所述电镀铜层的检测厚度h',包括:
5.如权利要求4所述的一种对压板电镀铜厚控制方法,其特征在于,所述根据所述初始测量点,获取所述待测区域中的最高测量点和最低测量点,包括:
6.如权利要求1所述的一种对压板电镀铜厚控制...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈廷魁,
申请(专利权)人:欣强电子清远股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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