一种数字电源及其电压采样失效的检测电路制造技术

技术编号:44528534 阅读:13 留言:0更新日期:2025-03-07 13:18
本技术提供一种数字电源电压采样失效的检测电路,属于测量测试用电子设备领域,包括电容C1、开关管Q1、Q2、滤波电路、采样电路、主控芯片和PWM驱动电路,电容C1并联在数字电源的输出端,开关管Q1的源极连接到数字电源的正极,开关管Q1的漏极分别连接到开关管Q2的源极和采样电路的第一输入端,开关管Q2的漏极分别连接到数字电源的负极和采样电路的第二输入端,滤波电路串联在开关管Q1的漏极与开关管Q2的漏极之间,采样电路的输出端连接到主控芯片的输入端,主控芯片的PWM信号输出端连接到PWM驱动电路,PWM驱动电路输出两个PWM驱动信号分别控制开关管Q1和Q2的开通或关断;还提供一种数字电源,电路结构简单,无需额外增加器件,成本大大降低。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量测试用电子设备,尤其涉及一种数字电源及其电压采样失效的检测电路


技术介绍

1、在数字式电源中,绝大多数都是恒电压输出电源,且在这些电源中,大部分都是采用的电压闭环控制。而基于电压闭环控制的数字式电源中,输出电压就是闭环控制的被控对象,所以不可避免第需要对电源的输出电压进行采样。

2、目前,不管是基于纯模拟电路,还是模拟电路加数字电路相结合的方式对输出电压进行采样,都难免会遇到诸如采样端子接触不良、采样线压接松动、采样线路老化、采样支路中电子元器件老化失效导致采样失效,最终都会导致输出电压采样失效,而在闭环控制中,一旦采样失效,就会导致主控芯片的ad单元无法采集到输出电压值,闭环控制的结果会导致电源核心器件开关管的占空比一直增大,直到输出最大占空比,继而输出电源硬件所能支持的最高电压,极有可能导致用户设备过压损坏。

3、现有技术中,公开号为cn113161989a的中国专利技术专利申请《数字电源及其故障检测电路、方法及计算机可读存储介质》实现在数字电源正常工作中,通过对控制电路的参考电压所转换生成的参考转换基准值进行检本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种数字电源电压采样失效的检测电路,其特征在于:包括:电容C1、开关管Q1、开关管Q2、滤波电路、采样电路、主控芯片MCU和PWM驱动电路,电容C1并联在数字电源的输出端,开关管Q1的源极连接到数字电源的正极,开关管Q1的漏极分别连接到开关管Q2的源极和采样电路的第一输入端,开关管Q2的漏极分别连接到数字电源的负极和采样电路的第二输入端,滤波电路串联在开关管Q1的漏极与开关管Q2的漏极之间,采样电路的输出端连接到主控芯片MCU的输入端,主控芯片MCU的PWM信号输出端连接到PWM驱动电路,PWM驱动电路输出两个PWM驱动信号分别控制开关管Q1和开关管Q2的开通或关断。

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【技术特征摘要】

1.一种数字电源电压采样失效的检测电路,其特征在于:包括:电容c1、开关管q1、开关管q2、滤波电路、采样电路、主控芯片mcu和pwm驱动电路,电容c1并联在数字电源的输出端,开关管q1的源极连接到数字电源的正极,开关管q1的漏极分别连接到开关管q2的源极和采样电路的第一输入端,开关管q2的漏极分别连接到数字电源的负极和采样电路的第二输入端,滤波电路串联在开关管q1的漏极与开关管q2的漏极之间,采样电路的输出端连接到主控芯片mcu的输入端,主控芯片mcu的pwm信号输出端连接到pwm驱动电路,pwm驱动电路输出两个pwm驱动信号分别控制开关管q1和开关管q2的开通或关断。

2.根据权利要求1所述的数字电源电压采样失效的检测电路,其特征在于:所述采样电路包括运放、电阻r1、电阻r2、电阻r3、电阻r4、电阻r5,电阻r1的一端作为采样电路的第一输入端连接到开关管q1的漏极,另一端分别连接到运放的正向输入端和电阻r3的一端,电阻r3的另一端分别连接到运放的输出端和电阻r5的一端,电阻r5的另一端连接到主控芯片mcu的输入端,电阻r2的一端作为采样电路的第二输入端连接到开关管q2的漏极,另一端分别连接到运放的反向输入端和电阻r4的一端,电阻r4的另一端接地。

3.根据权利要求1所述的数字电源电压采样失效的检测电路,其特征在于:所述pwm驱动电路包括隔离电源e1、驱动芯片u1、隔离电源e2和驱动芯片u2,主控芯片mcu的两个p...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟钢炜曹世明姚刘兆汪坤圆蔡振鸿唐德平
申请(专利权)人:科威尔技术股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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