【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于高纯铝靶材,具体涉及一种高纯铝靶材的制备方法。
技术介绍
1、随着电子信息产品制造业的高速发展,特别是在集成电路的制造生产过程中,薄膜技术得到了越来越广泛的应用。通过溅射法沉积制得的薄膜致密度高,是制作金属薄膜的主要方法,其中将用于溅射沉积薄膜的原料称之为靶材。高纯铝相较于原铝具有更好的导电、导热、抗腐蚀、导磁性小等优良性能,是一种优异的靶材材料。
2、但是高纯铝靶材在凝固过程中形成的组织都较为粗大,大塑性变形是目前想要获得细小且均匀晶粒最有效的方法之一,但是该方法只能得到尺寸较小的产品,此外,在过程中还极易发生动态再结晶现象,难以获得取向一致、晶粒尺寸均匀的高纯铝靶材。因此亟需一种更大尺寸、更好晶粒均匀度、更高力学性能的高纯铝靶材来满足现在的市场需要。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种高纯铝靶材的制备方法,以解决高纯铝靶材尺寸小、晶粒均匀度和力学性能较差的问题。
2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现:
3、本专利技术
...【技术保护点】
1.高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,包括以下工艺步骤:
2.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述氧化铈的添加量为0.002~0.005wt%。
3.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述热轧处理的轧制变形量为40~50%;所述冷轧处理的轧制变形量为80~90%。
4.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述四针状氧化锌晶须的添加量为所述冷轧后高纯铝铸锭质量的2~5%。
5.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述四针状氧化锌晶须经过铝掺杂改性
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【技术特征摘要】
1.高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,包括以下工艺步骤:
2.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述氧化铈的添加量为0.002~0.005wt%。
3.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述热轧处理的轧制变形量为40~50%;所述冷轧处理的轧制变形量为80~90%。
4.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述四针状氧化锌晶须的添加量为所述冷轧后高纯铝铸锭质量的2~5%。
5.根据权利要求1所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述四针状氧化锌晶须经过铝掺杂改性。
6.根据权利要求5所述的高纯铝靶材的制备方法,其特征在于,所述四针状氧化锌晶须中铝和锌的摩尔比为(0.05~0.1):1。
7.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐智勇,唐安泰,
申请(专利权)人:株洲火炬安泰新材料有限公司,
类型:发明
国别省市:
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