一种AD采样信号的处理方法、电路及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电路采样技术领域，公开了一种AD采样信号的处理方法、电路及装置。在硬件电路方面增加一组可调采样值域的采样电路，即两级串联采样电路，软件部分建立值域数据库；将大范围的采样域转换为可控的小范围的采样域，系统的采样精度与AD芯片精度及小范围采样域的范围相关，因此，提高了全值域范围内的采样精度。该方式提高了AD采集精度，节约了设计成本，可广泛应用于测温、IF测量等需要高精度AD采样且采样信号不存在连续大幅度跳变的场合，拥有广阔的应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电路采样，尤其涉及一种ad采样信号的处理方法、电路及装置。

技术介绍

1、ad采样是将模拟信号转换为数字信号的一种方法，其精度主要与目标值域及ad芯片的精度(位数)有关。

2、在实际中，ad采样精度与目标值域成反比(即目标值域越大精度越低)，与ad芯片精度成正比(即ad位数越高精度越高)，以温度信号的ad采样为例，在不考虑电路的非线性失真、白噪声等干扰因素的情况下，理论ad采样精度为全值域与ad总值的比值，如测量值域为-40℃至100℃，使用12位ad芯片，则理论ad采样精度为140/212＝0.034℃。提高采样精度，可以通过缩小采样值域或提高ad芯片精度来实现，但缩小采样值域可能无法达到系统要求，提高ad芯片精度，则带来高成本，甚至目前无成品能满足要求。

3、在很多情况下，当采样精度不满足要求时(如系统要求温度稳定性为±0.1℃，常规下测温精度一般需小于0.01℃才能保证)，常采样复路测温的方式解决，即除全值域ad采样外，在控温点附近以小目标值域方式进行ad采样以提高小区域内的温度精度。此方式能有效保证固定控温点附本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种AD采样信号的处理方法，应用于AD采样电路，所述AD采样电路包括第一级差分放大器、与所述第一级差分放大器连接的第二级差分放大器、CPU，所述第一级差分放大器和所述第二级差分放大器均与所述CPU连接，其特征在于，所述处理方法包括：

2.根据权利要求1所述的AD采样信号的处理方法，其特征在于，所述确定值域数据库，包括：

3.根据权利要求2所述的AD采样信号的处理方法，其特征在于，所述设定设定比例为1/2。

4.根据权利要求1所述的AD采样信号的处理方法，其特征在于，第二级差分放大器的值域受后级CPU控制。

5.根据权利要求1所述的AD采...

【技术特征摘要】

1.一种ad采样信号的处理方法，应用于ad采样电路，所述ad采样电路包括第一级差分放大器、与所述第一级差分放大器连接的第二级差分放大器、cpu，所述第一级差分放大器和所述第二级差分放大器均与所述cpu连接，其特征在于，所述处理方法包括：

2.根据权利要求1所述的ad采样信号的处理方法，其特征在于，所述确定值域数据库，包括：

3.根据权利要求2所述的ad采样信号的处理方法，其特征在于，所述设定设定比例为1/2。

4.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：向前，彭锦波，
申请(专利权)人：湖南航天机电设备与特种材料研究所，
类型：发明
国别省市：