用于粉末压片-X射线荧光光谱法的氧化铁测试样品的制备方法和氧化铁粉的检测方法技术

本发明专利技术提供了一种用于粉末压片‑X射线荧光光谱法的氧化铁测试样品的制备方法，包括：将氧化铁粉和钒渣内控标样进行混合，得到混合物；将所述混合物研磨后压片，得到氧化铁测试样品。本申请还提供了一种氧化铁粉中铁硅铝锰氯含量的检测方法，包括：按照上述制备方法制备氧化铁测试样品；将所述氧化铁测试样品采用X射线荧光光谱法检测，得到氧化铁粉中铁铝硅氯锰的含量。本发明专利技术提供的氧化铁测试样品的制备方法由原来的“氧化铁粉样品直接压片成型”制样工序改为“氧化铁粉与钒渣内控标样混合‑研磨‑压片成型”制样工序，所制备试样具有代表性、制取方便，使得X射线荧光光谱法分析精度高、重现性及再现性好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测，尤其涉及用于粉末压片-x射线荧光光谱法的氧化铁测试样品的制备方法和氧化铁粉的检测方法。

技术介绍

1、氧化铁粉是冷轧酸洗线副产品，是酸洗带钢经焙烧再生的回收产品，可用来生产磁性材料。外销氧化铁粉需常规检测的化学成分有全铁、氧化铝、二氧化硅、氯、氧化锰等，目前这5种化学组分分别测定，但是分析周期长、操作繁琐、功能单一、效率低，越来越不适应现代生产管理要求，并且使用大量有害化学试剂，不安全环保。国内钢铁企业广泛采用icp-aes法测定氧化铁粉中微量组分，icp-aes法虽然能同时测定多种元素，但不能测定主量元素铁和微量成分氯，同时使用酸分解试样，也不安全环保。

2、x射线荧光光谱法分析可测元素范围广，可测浓度范围宽，还具有快速、准确、操作简单、可进行无损分析的优点，因此，x射线荧光光谱法在冶金分析中得到广泛应用，但用于氧化铁粉化学组分测定未见文献资料报道。

3、x射线荧光光谱法分析可采用熔片法和压片法，熔片法能消除基体影响，测量结果准确，但熔片法样品被高倍稀释，轻元素、微量元素，激发效率低，荧光产额低，在光路中易被吸本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于粉末压片-X射线荧光光谱法的氧化铁测试样品的制备方法，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述氧化铁粉和钒渣内控标样的质量比为1：(2～6)。

3.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述研磨的时间为2～10min。

4.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述压片的压力为10～30t，保压10～50s。

5.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述钒渣内控标样中的元素包括：钒5wt％～10wt％、硅5wt％～10wt％、铝2wt％～5wt％、锰3wt％～8wt％、铁20wt％～40w...

【技术特征摘要】

1.一种用于粉末压片-x射线荧光光谱法的氧化铁测试样品的制备方法，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述氧化铁粉和钒渣内控标样的质量比为1：(2～6)。

3.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述研磨的时间为2～10min。

4.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述压片的压力为10～30t，保压10～50s。

5.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述钒渣内控标样中的元素包括：钒5wt％～10wt％、硅5wt％～10wt％、铝2wt％～5wt％、锰3wt％～8wt％、铁20wt％～40wt...

【专利技术属性】
技术研发人员：羊绍松，李克明，唐本芹，王娟，杨新能，李小青，
申请(专利权)人：攀钢集团攀枝花钢钒有限公司，
类型：发明
国别省市：