【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路元件测试领域，具体而言，涉及一种分选机的机架及分选机。
技术介绍
1、现今科技不断发展和创新，集成电路(integrated circuit,简称ic)的应用和需求也越来越多，由于ic在生产过程中需要经过多道精密的制作过程，因此在ic出厂销售之前，必须终经过一系列的电性能检测，来确保ic的产品质量。随着ic功能不断的发展完善，对于ic的测试环境要求也越来越高，测试需求也越来越广泛。
2、为了满足越来越广泛的测试需求，测试机的随着需求的增加，也相应产生各种规格的测试机，但现有技术中的分选机的机架只能适配一种规格的测试机，使得分选机的测试需求受到限制。
技术实现思路
1、本技术的主要目的在于提供一种分选机的机架及分选机，以解决相关技术中的分选机的机架适配测试机受限的问题。
2、为了实现上述目的，根据本技术的一个方面，提供了一种分选机的机架，包括：架体，包括横向段及与横向段连接的纵向段；面板，连接在横向段和纵向段的上方，面板、横向段及纵向段之间围成用于放...
【技术保护点】
1.一种分选机的机架，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的分选机的机架，其特征在于，所述加强结构(30)包括连接在所述面板(20)边沿处的第一立板件(31)，其中，至少部分所述第一立板件(31)位于所述悬空部(21)上。
3.根据权利要求2所述的分选机的机架，其特征在于，所述第一立板件(31)包括均连接在所述面板(20)边沿处的第一横向板段(311)和第一纵向板段(312)，所述第一纵向板段(312)与所述第一横向板段(311)连接，其中，所述第一横向板段(311)和所述第一纵向板段(312)的连接处位于所述悬空部(21)上。
<...【技术特征摘要】
1.一种分选机的机架，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的分选机的机架，其特征在于，所述加强结构(30)包括连接在所述面板(20)边沿处的第一立板件(31)，其中，至少部分所述第一立板件(31)位于所述悬空部(21)上。
3.根据权利要求2所述的分选机的机架，其特征在于，所述第一立板件(31)包括均连接在所述面板(20)边沿处的第一横向板段(311)和第一纵向板段(312)，所述第一纵向板段(312)与所述第一横向板段(311)连接，其中，所述第一横向板段(311)和所述第一纵向板段(312)的连接处位于所述悬空部(21)上。
4.根据权利要求3所述的分选机的机架，其特征在于，所述第一立板件(31)还包括连接在所述面板(20)边沿处的第二纵向板段(313)，所述第二纵向板段(313)与所述第一横向板段(311)连接，所述第一纵向板段(312)和所述第二纵向板段(313)相对设置。
5.根据权利要求4所述的分选...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈鋆锋，罗铭君，颜志兵，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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