【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及二维半导材料,尤其涉及一种二维层状纳米片、薄膜及其生长方法和光电器件的制备。
技术介绍
1、基于iii a-iv a族的二维(2d)半导体材料在许多电子和光电子应用中已成功地用作硅的替代品,并用于制造灵活、透明、新颖的结构光电器件。层状半导体α-in2se3,吸引了越来越多的兴趣。一方面与过渡金属硫化物的间接带隙属性不同,多层α-in2se3具有直接带隙、高的吸光系数和电子迁移率,已应用于高性能从紫外到近红外的光电探测器,具有广泛的应用前景。另一方面,与同样是直接带隙的2d材料的黑磷不同,二维α-in2se3在空气中非常稳定,这对于实际应用是非常重要的。
2、目前,α-in2se3的制备方法主要包括机械剥离、化学气相沉积(cvd)和物理气相沉积(pvd)。剥离方法获得的一些层状α-in2se3纳米片均匀性、尺寸和厚度方面缺乏可控性。cvd和pvd多为前驱体粉末在反应炉上游,衬底置于反应炉的下游,除反应温度较高和多以惰性气体为保护气或载气外,生长得到二维材料尺寸普遍较小,不利于光电器件的制作。此外,合金材料的成分
...【技术保护点】
1.一种二维层状纳米片、薄膜的生长方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述目标温度为700~850℃。
3.根据权利要求2所述的生长方法,其特征在于,所述云母片距离石英舟的垂直距离为5mm至20mm。
4.根据权利要求1至3任一项所述的生长方法,其特征在于,所述保温一定时间为5min~20min。
5.根据权利要求4所述的生长方法,其特征在于,所述升温速率为20~30℃/min;
6.一种二维层状纳米片、薄膜,其特征在于,采用上述权利要求1至5任一项的所述生长方法获
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【技术特征摘要】
1.一种二维层状纳米片、薄膜的生长方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的生长方法,其特征在于,所述目标温度为700~850℃。
3.根据权利要求2所述的生长方法,其特征在于,所述云母片距离石英舟的垂直距离为5mm至20mm。
4.根据权利要求1至3任一项所述的生长方法,其特征在于,所述保温一定时间为5min~20min。
5.根据权利要求4所述的生长方法,其特征在于,所述升温速率为20~30℃/min;
6.一种二维...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨孟孟,叶浩宇,郑照强,高伟,
申请(专利权)人:华南师范大学,
类型:发明
国别省市:
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