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【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域,特别是涉及一种微指令的板间同步触发方法及微指令控制测试系统。
技术介绍
1、半导体芯片ate(automatic test equipment,自动测试设备)用于检测集成电路的功能和性能的完整性,是集成电路生产制造流程中确保集成电路品质的重要设备。其对集成电路测试通常需经过测试程序设计、程序编译、向量加载、测试执行四个步骤,而pattern(测试向量)文件则是贯穿集成电路测试的各个步骤。pattern文件包含的主要内容是输入电平与期望输出电平的符号组合,也包含了为了实现某些复杂功能的微指令。在测试过程中,多个资源板卡需要协同操作,并要求不同板卡之间能够实现微指令的同步触发。然而,现有的触发方式通常是通过数字板卡(dio)运行pattern时解析触发(trigger)微指令,并将trigger消息发送到通信总线,其他板卡接收到该条指令后,完成对应操作。该方法需要花费通信时间,实时性较差。
技术实现思路
1、在本实施例中提供了一种微指令的板间同步触发方法及微指令控制测试系统,以解决相关技术中多板卡微指令同步触发时需要花费通信时间,实时性较差的问题。
2、第一个方面,在本实施例中提供了一种微指令的板间同步触发方法,所述方法应用于微指令控制测试系统中的资源板卡,所述系统包括上位机、与所述上位机通信连接的通信板卡和与所述通信板卡连接的多个资源板卡,所述方法包括:
3、接收所述通信板卡发送的同步时钟信号,并基于所述同步时钟信号开始循环计数,得到时
4、基于预先加载至缓存的多条测试指令的排序,依次将每条测试指令展开为一条或多条微指令;
5、接收所述通信板卡发送的启动指令,所述启动指令包括启动计数值;
6、将所述启动计数值与所述时钟计数值进行比较,当所述时钟计数值第一次等于所述启动计数值时,触发所述微指令的运行。
7、在其中的一些实施例中,所述微指令包括执行周期序号,所述当所述时钟计数值第一次等于所述启动计数值时,触发所述微指令的运行包括:
8、当所述时钟计数值第一次等于所述启动计数值时,基于所述同步时钟信号和预先配置的执行周期因子开始计数,得到执行周期计数值;
9、依次获取各所述微指令的执行周期序号并与所述执行周期计数值比较;
10、当所述执行周期序号等于所述执行周期计数值时,执行所述微指令,直至所述缓存中所有微指令执行完毕。
11、在其中的一些实施例中,所述微指令还包括事件类型和事件参数,所述执行所述微指令包括:
12、基于所述事件类型和所述事件参数,获取所述微指令的指令信息;
13、基于所述事件参数,确定所述微指令的发送对象;
14、将所述指令信息发送至所述发送对象。
15、在其中的一些实施例中,所述将所述指令信息发送至所述发送对象包括:
16、在所述发送对象为波形发生器或波形采集器的情况下,对所述指令信息进行时钟域转换,并分发至所述波形发生器或波形采集器;
17、在所述发送对象为控制器的情况下,基于与所述控制器的通信协议,将所述指令信息发送至所述控制器。
18、在其中的一些实施例中,所述基于所述事件类型和所述事件参数,获取所述微指令的指令信息包括:
19、在所述微指令的事件类型为指令加载的情况下,基于所述事件参数中的加载地址,从存储器中读取对应的指令信息;
20、在所述微指令的事件类型不是指令加载的情况下,基于所述事件参数生成对应的指令信息。
21、在其中的一些实施例中,所述微指令还包括有效通道,所述当所述执行周期序号等于所述执行周期计数值时,执行所述微指令包括:
22、基于所述微指令的有效通道确定所述微指令对所述资源板卡是否有效;
23、在有效的情况下,执行所述微指令;
24、在无效的情况下,忽略所述微指令并读取下一微指令。
25、在其中的一些实施例中,所述测试指令包括有效通道、行差、操作码和功能信息,所述基于预先加载至缓存的多条测试指令的排序,依次将每条测试指令展开为一条或多条微指令包括:
26、基于所述操作码和所述功能信息,获取所述测试指令对应的执行周期数量;
27、基于所述行差和所述执行周期数量,获取所述测试指令对应的各微指令的执行周期序号;
28、基于所述有效通道、执行周期序号、操作码和功能信息,生成所述测试指令对应的一条或多条微指令。
29、在其中的一些实施例中,所述当所述执行周期序号等于所述执行周期计数值时,执行所述微指令包括:
30、确定所述微指令是否延时补偿微指令,所述延时补偿微指令包括延时周期数;
31、若是,获取所述延时补偿微指令之后的各微指令对应的执行周期序号与所述延时周期数的差值;
32、将所述差值与所述执行周期计数值进行比较,当所述差值等于所述执行周期计数值时,执行对应的微指令。
33、在其中的一些实施例中,在所述基于预先加载至缓存的多条测试指令的排序,依次将每条测试指令展开为一条或多条微指令之前,所述方法还包括:
34、基于接收到的预加载指令和测试指令的存储地址、长度,将多条测试指令依次读取至缓存;
35、基于所述测试指令的长度、读取至所述缓存的测试指令的数量和所述缓存的最大存储数量,设置预加载标识;
36、在所述预加载标识的值等于预设值的情况下,基于所述缓存中测试指令的排序,依次将每条测试指令展开为一条或多条微指令。
37、第二个方面,在本实施例中提供了一种微指令控制测试系统,所述系统包括上位机、与所述上位机通信连接的通信板卡和与所述通信板卡连接的多个资源板卡,所述资源板卡包括微指令控制器,所述微指令控制器包括:
38、业务解码模块,用于接收所述通信板卡发送的同步时钟信号和启动指令并转发至微指令控制模块,所述启动指令包括启动计数值;
39、测试指令缓存模块,用于基于预先加载的多条测试指令的排序,依次将每条测试指令展开为一条或多条微指令并发送至所述微指令控制模块;
40、微指令控制模块,用于基于所述同步时钟信号开始循环计数,得到时钟计数值;以及将所述启动计数值与所述时钟计数值进行比较,当所述时钟计数值第一次等于所述启动计数值时,触发所述微指令的运行。
41、在其中的一些实施例中,所述微指令控制器还包括参数控制模块,所述微指令控制模块还用于:
42、当所述时钟计数值第一次等于所述启动计数值时,基于所述同步时钟信号和预先配置的执行周期因子开始计数,得到执行周期计数值;
43、依次获取各所述微指令的执行周期序号并与所述执行周期计数值比较;
44、当所述执行周期序号等于所述执行周期计数值时,基于所述微指令的有效通道确定所述微指令对所述资源板卡是否有效;本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种微指令的板间同步触发方法,其特征在于,所述方法应用于微指令控制测试系统中的资源板卡,所述系统包括上位机、与所述上位机通信连接的通信板卡和与所述通信板卡连接的多个资源板卡,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述微指令包括执行周期序号,所述当所述时钟计数值第一次等于所述启动计数值时,触发所述微指令的运行包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述微指令还包括事件类型和事件参数,所述执行所述微指令包括:
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述指令信息发送至所述发送对象包括:
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述事件类型和所述事件参数,获取所述微指令的指令信息包括:
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述微指令还包括有效通道,所述当所述执行周期序号等于所述执行周期计数值时,执行所述微指令包括:
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试指令包括有效通道、行差、操作码和功能信息,所述基于预先加载至缓存的多条测试指令的排序,依次将每
8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述当所述执行周期序号等于所述执行周期计数值时,执行所述微指令包括:
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述基于预先加载至缓存的多条测试指令的排序,依次将每条测试指令展开为一条或多条微指令之前,所述方法还包括:
10.一种微指令控制测试系统,其特征在于,所述系统包括上位机、与所述上位机通信连接的通信板卡和与所述通信板卡连接的多个资源板卡,所述资源板卡包括微指令控制器,所述微指令控制器包括:
11.根据权利要求10所述的系统,其特征在于,所述微指令控制器还包括参数控制模块,所述微指令控制模块还用于:
12.根据权利要求11所述的系统,其特征在于,所述微指令控制器还包括加载控制模块和参数选择模块,所述微指令包括事件类型和事件参数,
13.根据权利要求12所述的系统,其特征在于,所述微指令控制器还包括跨时钟域控制模块和控制器传输模块,
14.根据权利要求10所述的系统,其特征在于,所述微指令控制器还包括指令请求模块,所述指令请求模块用于:
...【技术特征摘要】
1.一种微指令的板间同步触发方法,其特征在于,所述方法应用于微指令控制测试系统中的资源板卡,所述系统包括上位机、与所述上位机通信连接的通信板卡和与所述通信板卡连接的多个资源板卡,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述微指令包括执行周期序号,所述当所述时钟计数值第一次等于所述启动计数值时,触发所述微指令的运行包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述微指令还包括事件类型和事件参数,所述执行所述微指令包括:
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述指令信息发送至所述发送对象包括:
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述事件类型和所述事件参数,获取所述微指令的指令信息包括:
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述微指令还包括有效通道,所述当所述执行周期序号等于所述执行周期计数值时,执行所述微指令包括:
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试指令包括有效通道、行差、操作码和功能信息,所述基于预先加载至缓存的多条测试指令的排序,依次将每条测试指令展开...
【专利技术属性】
技术研发人员:于洋,邓成龙,王德伟,李金胚,孙传凤,
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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