【技术实现步骤摘要】
本申请涉及设备测试，尤其是涉及一种针对测试机的综合测试系统。
技术介绍
1、随着信息技术的飞速发展与广泛应用，芯片作为电子设备的核心部件，其重要性不言而喻。随着各行业对数据处理能力、运行速度及能效比要求的不断提升，对芯片的需求不仅体现在数量上的激增，更在性能、稳定性、安全性及定制化等方面提出了前所未有的高标准。这一趋势驱动了芯片测试需求的迅猛增长，以确保每一枚芯片在出厂前都能达到严格的质量标准，满足复杂多变的应用场景需求。
2、面对庞大的测试需求，芯片测试设备作为保障芯片质量的关键工具，其重要性愈发凸显。为了满足日益严苛的测试要求，测试设备不仅需要具备高精度的测量能力、高效率的数据处理能力，还必须拥有更长的使用寿命和更加稳定可靠的性能。这就要求设备制造商在设计时充分考虑耐用性、易维护性及可扩展性，确保设备能在高强度、连续性的工作环境中稳定运行。
3、为了保障测试设备始终处于最佳工作状态，日常维护和校准工作成为了不可或缺的一环。这包括定期对设备进行清洁、检查各部件磨损情况、更换老化或损坏的零部件、调整设备参数以确保...
【技术保护点】
1.一种针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述系统包括：控制单元、信号测试单元、电源测试单元和可靠性测试单元；
2.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述控制单元为MCU控制芯片。
3.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述MCU控制芯片的型号为ZYNQ7000。
4.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述信号测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的信号测试通道，继电器的另一端连接至示波器；所述示波器的另一端连接至上位机；
5.根据...
【技术特征摘要】
1.一种针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述系统包括：控制单元、信号测试单元、电源测试单元和可靠性测试单元；
2.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述控制单元为mcu控制芯片。
3.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述mcu控制芯片的型号为zynq7000。
4.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述信号测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的信号测试通道，继电器的另一端连接至示波器；所述示波器的另一端连接至上位机；
5.根据权利要求4所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述信号测试通道包括256路信号测试通道。
6.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李岩，谢斌，吴成磊，凌慢慢，
申请(专利权)人：长三角集成电路工业应用技术创新中心，
类型：发明
国别省市：
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