【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体，更具体地，涉及一种存储设备及其数据块擦除方法。
技术介绍
1、随着存储设备对应的堆叠高度增加，金属通孔高度变高，导致数据块擦除效率降低，存储设备中的数据块擦除时间变长，传统的数据擦除方案，在数据块擦除过程中不支持插入写入操作，导致擦除操作会对相关数据写入操作造成堵塞，影响存储设备的数据存储和访问性能。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例提供一种存储设备及其数据块擦除方法，以通过各数据块列表记录处于不同擦除步骤的数据块，从而实现了数据块的分步擦除，以使得存储设备可以在执行完某个步骤的擦除操作后能够执行高优先级的数据访问操作，在保证擦除操作可靠性的同时降低了数据访问的时延，提高了存储设备的整体性能。
2、第一方面，本专利技术实施例提供一种存储设备的数据块擦除方法，所述方法包括：
3、从多个数据块列表中确定目标数据块，所述多个数据块列表包括第一数据块列表和至少一个第二数据块列表，所述第一数据块列表用于记录未执行擦除操作的数据块，所述第二数据...
【技术保护点】
1.一种存储设备的数据块擦除方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述查询执行状态包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从多个数据块列表中确定目标数据块包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标步骤为最后一步擦除操作，所述目标数据块列表为用于记录空闲数据块的第二数据块列表。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.一种存储设备，其特征在于，所述存
...【技术特征摘要】
1.一种存储设备的数据块擦除方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述查询执行状态包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从多个数据块列表中确定目标数据块包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标步骤为最后一步擦除操作，所述目标数据块列表为用于记录空闲数据块的第二数据块列表。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：陈国星，秦军杰，金加靖，高祥，
申请(专利权)人：平头哥上海半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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