【技术实现步骤摘要】
本申请属于高性能探针修饰，具体地讲，涉及一种包裹二维材料的探针尖端结构及其制备方法。
技术介绍
1、在纳米科技和材料科学的领域中，高分辨率探针技术如扫描近场光学显微镜(snom)和原子力显微镜(afm)扮演着至关重要的角色。这些技术不仅能够以纳米尺度进行表面成像和测量，还能够揭示材料结构与性质之间微妙的关联，从而推动了微纳米技术的发展和应用。
2、snom作为一种非接触式的光学显微技术，利用探针尖端与样品表面极近距离的交互作用，使得能够超越传统光学分辨极限，实现超高分辨率的光学成像。它在生物医学领域中广泛应用，例如对生物分子、细胞和生物组织的结构与功能进行直接观察和分析，为疾病诊断、药物开发等提供了重要的支持。afm则以其在原子尺度上的力测量能力而闻名。通过探针尖端对样品表面的微小力互动进行检测，afm能够实现高分辨率的表面成像、力谱学和表面力测量，为材料科学研究和纳米结构制备提供了不可替代的手段。在材料科学领域，afm被广泛用于表面形貌分析、表面力学性质测量、薄膜和纳米结构的制备与表征等方面，对新材料的开发和优化起到了关键
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【技术保护点】
1.一种包裹二维材料的探针尖端结构的制备方法，其特征在于，所述制备方法包括：
2.根据权利要求1所述的包裹二维材料的探针尖端结构的制备方法，其特征在于，所述从块状二维材料中剥离得到单层二维材料的方法为采用电化学剥离方法从块状二维材料剥离得到单层二维材料。
3.根据权利要求1所述的包裹二维材料的探针尖端结构的制备方法，其特征在于，对所述单层二维材料进行超声分散处理，得到二维材料悬浮液的方法包括：
4.根据权利要求1所述的包裹二维材料的探针尖端结构的制备方法，其特征在于，所述制备方法还包括：
5.根据权利要求4所述的包裹二维...
【技术特征摘要】
1.一种包裹二维材料的探针尖端结构的制备方法，其特征在于，所述制备方法包括：
2.根据权利要求1所述的包裹二维材料的探针尖端结构的制备方法，其特征在于，所述从块状二维材料中剥离得到单层二维材料的方法为采用电化学剥离方法从块状二维材料剥离得到单层二维材料。
3.根据权利要求1所述的包裹二维材料的探针尖端结构的制备方法，其特征在于，对所述单层二维材料进行超声分散处理，得...
【专利技术属性】
技术研发人员：巩凤凡，詹高磊，李春晓，赵之文，袁秉凯，
申请(专利权)人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所，
类型：发明
国别省市：
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