校正值计算方法、程序、校正值计算装置和编码器制造方法及图纸

提供了一种校正值计算方法、程序和装置，该方法包括：极坐标计算步骤，用于针对N个相位角θ<subgt;i</subgt;和与每个相位角θ<subgt;i</subgt;相对应的利萨茹半径R<subgt;i</subgt;计算平方半径R<subgt;i</subgt;<supgt;2</supgt;；以及校正值计算步骤，用于基于每个相位角θ<subgt;i</subgt;和平方半径R<subgt;i</subgt;<supgt;2</supgt;，至少计算信号X的偏移误差C<subgt;x</subgt;的校正残差ΔC<subgt;x</subgt;、信号Y的偏移误差C<subgt;y</subgt;的校正残差ΔC<subgt;y</subgt;、信号X和Y的振幅比误差K<subgt;a</subgt;的校正残差ΔK<subgt;a</subgt;和信号X与信号Y之间的相位差误差P<subgt;y</subgt;的校正残差ΔP<subgt;y</subgt;，然后基于校正残差计算校正值。使用每个相位角θ<subgt;i</subgt;和与每个相位角θ<subgt;i</subgt;相对应的平方半径R<subgt;i</subgt;<supgt;2</supgt;，通过最小二乘法获得近似表达式模型中的系数，并且从获得的系数获得校正残差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于校正2相正弦信号的校正值计算(correction valuecalculation)方法、校正值计算程序、校正值计算装置和编码器。

技术介绍

1、传统上，已知用于校正编码器输出的2相正弦信号中的误差(诸如偏移误差、振幅比误差和相位差误差)的方法。

2、例如，jp 2006-112862a描述了一种检测2相正弦信号的三次谐波分量并计算和校正偏移误差、振幅比误差和相位差误差的专利技术。在jp 2006-112862a中描述的专利技术中，偏移误差和振幅比误差是从使用2相正弦信号的利萨茹(lissajous)波形与x轴或y轴相交的四个过零点(zero-crossing points)获得的，因此如果用于计算校正系数的数据不包括在过零点周围采样的数据，则不能充分减小误差。相位差误差通过使用2相正弦信号的利萨茹波形与直线y＝x和y＝-x相交的四个点获得。为了减少误差，有必要在利萨茹波形与直线相交的点附近进行采样。

3、这里，电磁感应型编码器比光电型编码器需要更多的采样时间，因为它通过施加ac信号来检测位移。此外，在低功耗编码本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于计算校正值以校正由编码器输出的2相正弦信号(X，Y)的校正值计算方法，包括：

2.根据权利要求1所述的校正值计算方法，其中，在所述校正值计算步骤中，等式(5)和(6)被用作所述近似表达式模型，

3.根据权利要求1所述的校正值计算方法，其中，在所述极坐标计算步骤中，通过使用等式(20)以A作为所述2相正弦信号的振幅来近似sinθi和cosθi而获得的xi和yi被计算为表示所述相位角θi的数据，

4.根据权利要求1所述的校正值计算方法，还包括校正步骤，所述校正步骤用于基于所述校正值校正所述2相正弦信号，

5.根据权利要求4所述的校正...

【技术特征摘要】

1.一种用于计算校正值以校正由编码器输出的2相正弦信号(x，y)的校正值计算方法，包括：

2.根据权利要求1所述的校正值计算方法，其中，在所述校正值计算步骤中，等式(5)和(6)被用作所述近似表达式模型，

3.根据权利要求1所述的校正值计算方法，其中，在所述极坐标计算步骤中，通过使用等式(20)以a作为所述2相正弦信号的振幅来近似sinθi和cosθi而获得的xi和yi被计算为表示所述相位角θi的数据，

4.根据权利要求1所述的校正值计算方法，还包括校正步骤，所述校正步骤用于基于所述校正值校正所述2相正弦信号，

5.根据权利要求4所述的校正值计算方法，其中所述校正值使用等式(19)来更新，

6.根据权利要求1所述的校正值计算方法，其中所述编码器能够检测超过与所述2相正弦信号的一个周期相对应的位移的宽范围位移，并且

7.根据权利要求6所述的校正值计算方法，其中，在所述信号强度校正步骤计算步骤中，等式(27)被用作近似表达式模型，所述近似表达式模型将所述平方半径r2表示为所述宽范围相位角的三角函数，

8.一种程序，所述程序使计算机执行根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：桐山哲郎，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：