【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子元器件测试，具体涉及一种多电极陶瓷端子高温测试装置。
技术介绍
1、对普通电子元器件进行测试时，常规情况下，使用测试夹接触电极两端来完成测量。但对于小尺寸、多电极产品高温测试时，需要在烘箱内，对一颗器件上不同电极分别进行接触测量。由于单电极尺寸小、排列紧密，测试夹无法满足每次仅接触1个电极，且人工无法在烘箱内进行切换电极的作业。就需要一种可在显微镜下观察、使用探针分别且同时接触所有电极，通过开关逐个切换电极通断的装置进行测量。
技术实现思路
1、为此，本技术实施例提供一种多电极陶瓷端子高温测试装置，以解决现有技术存在的问题。
2、为了实现上述目的，本技术实施例提供如下技术方案：
3、一种多电极陶瓷端子高温测试装置，包括：
4、基板，作为所述测试装置的支撑底座；
5、立柱，立柱沿竖直方向固定在基板顶部的一侧；
6、两个锁块，两个锁块间隔设置于立柱上，并与立柱固定连接；
7、l型连接块，所述l型连接块连接有上探卡组件，l型连接块通过第一上下调节机构与两个锁块连接；
8、第一左右调节机构，第一左右调节机构连接于l型连接块与上探卡组件之间；
9、下探卡组件，下探卡组件设置于基板上方；
10、第二上下调节机构，第二上下调节机构设置于下探卡组件的底部，并与下探卡组件连接；
11、第二左右调节机构，第二左右调节机构设置于第二上下调节机构的底部，并与第二上下调节机构
12、底板，底板设置于第二左右调节机构的底部，并与第二左右调节机构连接；
13、滑轨组件，滑轨组件设置于基板上，底板通过滑块滑动连接于滑轨组件上；
14、显微镜组件，显微镜组件设置于立柱的顶部；
15、测试平台，所述测试平台设置于下探卡组件与上探卡组件之间，测试平台与底板固定连接。
16、可选地，所述第一上下调节机构为齿轮齿条滑台。
17、可选地，所述第二上下调节机构为z向滑台。
18、可选地，所述第一左右调节机构与第二左右调节机构均为xy微型滑台。
19、可选地，所述上探卡组件及下探卡组件均包括若干探针，若干探针均设置有接头，且每个接头上均连接有屏蔽线。
20、可选地，所述上探卡组件通过上探卡支架与第一左右调节机构连接。
21、可选地，所述下探卡组件通过下探卡支架与第二上下调节机构连接。
22、可选地，所述测试平台顶部开设有与待测产品尺寸相适配的凹槽，凹槽的槽底开设有与电极数量相同的贯穿孔，测试针穿过贯穿孔与电极接触。
23、可选地，还包括控制盒，控制盒与屏蔽线连接，控制盒引出仪表连接线。
24、本技术至少具有以下有益效果：
25、本技术通过滑轨，将测试台侧向滑出，人工上料后滑回，通过显微镜组件观察，调节第一上下调节机构与第二上下调节机构旋钮使探卡上探针与电极准确接触，将整套装置放入烘箱内，通过控制不同上探卡组件与下探卡组件每个探针，分别通路对应的电极，对每个探针进行测试，直至产品上所有电极测试完成，测试完成后，将测试平台滑出，更换待测品，重复，从而能够在烘箱内切换不同的电极进行检测，同时能够满足多个每次仅接触一个电极，方便使用。
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1.一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述第一上下调节机构为齿轮齿条滑台。
3.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述第二上下调节机构为Z向滑台。
4.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述第一左右调节机构与第二左右调节机构均为XY微型滑台。
5.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述上探卡组件及下探卡组件均包括若干探针，若干探针均设置有接头，且每个接头上均连接有屏蔽线。
6.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述上探卡组件通过上探卡支架与第一左右调节机构连接。
7.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述下探卡组件通过下探卡支架与第二上下调节机构连接。
8.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述测试平台顶部开设有与待测产品尺寸相适配的凹
9.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：还包括控制盒，控制盒与屏蔽线连接，控制盒引出仪表连接线。
...【技术特征摘要】
1.一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述第一上下调节机构为齿轮齿条滑台。
3.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述第二上下调节机构为z向滑台。
4.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述第一左右调节机构与第二左右调节机构均为xy微型滑台。
5.根据权利要求1所述的一种多电极陶瓷端子高温测试装置，其特征在于：所述上探卡组件及下探卡组件均包括若干探针，若干探针均设置有接头，且每个接头上均连接有屏蔽线。
【专利技术属性】
技术研发人员：徐延初，王新，段磊，王斗斗，
申请(专利权)人：北京元六鸿远电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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