【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子元器件检测，具体为电子元器件温度检测测试装置。
技术介绍
1、温度测试是确保电子产品能够在不同温度条件下正常工作的重要环节，通过模拟不同的温度环境，可以测试电子元器件在极端温度下的性能表现，从而评估其质量和可靠性；
2、但是目前的测试过程对于温度把控较为困难，使得检测结果存在一定的误差，且在检测时，一次只能对一个元件进行检测，检测效率较低，在检测完成后，检测箱内壁可能仍残留有余热，在工作人员将元件取出时容易造成烫伤，对工作人员造成一定的伤害。
3、例如公开号“cn218630009u”提供的电子元器件温度检测测试装置，该装置通过设置的加热箱和制冷机，在使用时，可以通过加热箱和制冷机对箱体内的温度进行调整，从而对元件在不同温度下运行状态进行检测。
4、但是上述装置在实施的过程中仍存在以下问题：
5、该装置在箱体内部设置有多组弹簧和定位板，在将多个电子元器件放置在箱体内进行检测时，元器件运行时产生的热量相互影响，可能导致检测结果产生误差，且在使用完成后，加热箱内壁可能仍残留有余温...
【技术保护点】
1.电子元器件温度检测测试装置，其特征在于：包括固定箱(1)，所述固定箱(1)的内部滑动连接有封闭检测组件(2)，所述封闭检测组件(2)包括检测箱(21)，所述检测箱(21)的内部固定安装有两个密封分隔板(22)，所述检测箱(21)的内部通过密封分隔板(22)分隔为多个检测腔，每个所述检测腔内均设置有元件固定检测组件(3)，所述封闭检测组件(2)的顶部还铰接有密封盖(4)，所述密封盖(4)的顶部设置有多组检测测试组件，每组所述检测测试组件均与相邻检测腔相连通。
2.根据权利要求1所述的电子元器件温度检测测试装置，其特征在于：所述固定箱(1)内部的一侧上转动...
【技术特征摘要】
1.电子元器件温度检测测试装置，其特征在于：包括固定箱(1)，所述固定箱(1)的内部滑动连接有封闭检测组件(2)，所述封闭检测组件(2)包括检测箱(21)，所述检测箱(21)的内部固定安装有两个密封分隔板(22)，所述检测箱(21)的内部通过密封分隔板(22)分隔为多个检测腔，每个所述检测腔内均设置有元件固定检测组件(3)，所述封闭检测组件(2)的顶部还铰接有密封盖(4)，所述密封盖(4)的顶部设置有多组检测测试组件，每组所述检测测试组件均与相邻检测腔相连通。
2.根据权利要求1所述的电子元器件温度检测测试装置，其特征在于：所述固定箱(1)内部的一侧上转动连接有两个调节螺杆(11)，两个所述调节螺杆(11)的两端均转动连接于固定箱(1)内壁的顶部和底部中，两个所述调节螺杆(11)的底部均固定连接有传动轮(12)，两个所述传动轮(12)之间设置有传动皮带(14)，两个所述传动轮(12)通过传动皮带(14)传动连接，所述固定箱(1)内还设置有伺服电机(13)，所述伺服电机(13)的输出端通过联轴器与其中一个所述传动轮(12)相固定；
3.根据权利要求2所述的电子元器件温度检测测试装置，其特征在于：所述检测箱(21)靠近底部的两侧上均固定安装有固定块(23)，每个所述固定块(23)上均开设有调节孔(24)，靠近两个所述调节螺杆(11)一侧的两个固定块(23)均通过调节孔(24)转动连接于相邻调节螺杆(11)上，另一侧的两个所述固定块(23)通过两个调节孔(24)滑动于相邻所述滑动杆上。
4.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：金山，胡少华，张艳，淡亚鹏，张凡，马肖肖，员佩，梁妙妙，袁娜，
申请(专利权)人：陕西恒太电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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