基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法及系统技术方案

技术编号:43912380 阅读:15 留言:0更新日期:2025-01-03 13:19
本发明专利技术涉及数据分析技术领域,发明专利技术了一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,包括:对硬盘监控数据进行异常值筛除以及时序平滑插值操作,得到硬盘数据序列;对硬盘数据序列进行数据标准化操作,得到标准数据序列,并对标准数据序列进行多通道特征提取以及互信息降维操作,得到硬盘属性特征序列;对硬盘属性特征序列进行双向时序编码以及全局注意力编码,得到硬盘属性时序特征;对硬盘属性时序特征进行变分故障分类以及故障标注以及时序膨胀卷积,得到标准时序特征,并对标准时序特征进行寿命分析,得到硬盘剩余寿命。本发明专利技术还提出一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析系统。本发明专利技术可以提高寿命分析的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数据分析,尤其涉及一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法及系统


技术介绍

1、固态硬盘(solid state drive,简称ssd)是一种非易失性存储设备,使用闪存来存储数据,且不依赖传统的机械部件来存取数据,相比机械硬盘,固态硬盘具有更快的读写速度、更高的抗震性和更低的功耗,但其寿命有限,主要受限于闪存芯片的擦写次数影响,随着存储设备逐步老化,固态硬盘的性能会下降,并最终达到寿命终点,因此,对固态硬盘进行剩余寿命分析是评估硬盘健康状态、保证数据安全性和维护存储系统正常运行的关键。

2、现有的固态硬盘剩余寿命分析方法多是基于统计分析的寿命分析方法,通常依赖于经验公式和统计分析,通过硬盘的擦写次数、温度、故障率等因素估算寿命,实际应用时,基于统计分析的寿命分析方法的精度较低,无法适应现代固态硬盘的复杂运行模式,在捕捉复杂时序特征和长期趋势方面存在不足,可能会导致进行剩余寿命分析时的精确度较低。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述对所述硬盘监控数据进行异常值筛除以及时序平滑插值操作,得到硬盘数据序列,包括:

3.如权利要求2所述的基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述对所述初级数据序列进行多项式平滑插值,得到硬盘数据序列,包括:

4.如权利要求1所述的基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述对所述标准数据序列进行多通道特征提取以及互信息降维操作,得到硬盘属性特征序列,包...

【技术特征摘要】

1.一种基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述对所述硬盘监控数据进行异常值筛除以及时序平滑插值操作,得到硬盘数据序列,包括:

3.如权利要求2所述的基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述对所述初级数据序列进行多项式平滑插值,得到硬盘数据序列,包括:

4.如权利要求1所述的基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述对所述标准数据序列进行多通道特征提取以及互信息降维操作,得到硬盘属性特征序列,包括:

5.如权利要求4所述的基于改进分类器模型的固态硬盘剩余寿命分析方法,其特征在于,所述根据所述次级属性特征序列组中所有的次级属性特征序列的互信息值对所述次级属性特征序列组进行互信息降维,得到硬盘属...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴佳刘佳
申请(专利权)人:深圳威固迅驰智能数据科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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