残余应力测定方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及数据处理领域，尤其涉及残余应力测定方法及系统。方法包括步骤：采集X射线衍射谱；将任意一个极大值点记为目标极大值点，对X射线衍射谱进行调整得到调整后X射线衍射谱，根据调整后X射线衍射谱计算目标极大值点的左坡度延续性和右坡度延续性；根据左坡度延续性和右坡度延续性计算目标极大值点的主峰程度；将X射线衍射谱拆分成若干IMF分量；根据主峰程度计算所述IMF分量的主峰描述程度；基于主峰描述程度获取去噪后X射线衍射谱；以实现残余应力检测。通过对噪声峰和衍射峰进行区分来实现准确去噪。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数据处理领域，尤其涉及残余应力测定方法及系统。

技术介绍

1、目前存在多种残余应力测定方法，其中较多残余应力测定方法对待检测件进行检测时，会对待检测件造成一定程度的损伤，因而这些残余应力检测方法在较多场合下不能使用。x射线方法残余应力检测在对待检测件进行检测时，不会损伤待检测件，因而本专利技术采用x射线方法进行残余应力检测。

2、x射线方法在对待检测件进行残余应力检测时，是通过在待检测件上射入x射线，x射线进入待检测件中，会出现衍射现象；其中待检测件的残余应力不同，其材料内部的晶格畸变不同，晶格畸变不同导致的x射线衍射，从而可以根据x射线在待检测件中产生的衍射光谱推测出待检测件的残余应力情况。在采集x射线衍射光谱的过程中，容易受到仪器振动、电磁干扰等因素造成的噪声，这些噪声会影响残余应力检测的准确性，因而需对采集到的x射线衍射光谱进行去噪处理。

3、当前多采用经验模态分解算法(empirical mode decomposition，简称emd)算法对x射线衍射光谱进行去噪处理，该算法是通过将x射线衍射光谱分解出高频分本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.残余应力测定方法，其特征在于，包括步骤：

2.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述获取调整后X射线衍射谱中目标极大值点左侧第一个单调截止点记为左单调截止点，包括：

3.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述区域的获取方法，包括：

4.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述区域平滑程度的获取方法，包括：

5.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述峰值标志值的获取方法，包括：

6.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述获取目标极大值点的右坡度延续性...

【技术特征摘要】

1.残余应力测定方法，其特征在于，包括步骤：

2.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述获取调整后x射线衍射谱中目标极大值点左侧第一个单调截止点记为左单调截止点，包括：

3.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述区域的获取方法，包括：

4.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述区域平滑程度的获取方法，包括：

5.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述峰值标志值的获取方法，包括：

6.根据权利要求1所述的残余应力测定方法，其特征在于，所述获取目标极大值点的右坡度延续性，包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：张龙祥，吕克茂，程时美，
申请(专利权)人：邯郸市爱斯特应力技术有限公司，
类型：发明
国别省市：