基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法与系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法与系统，涉及型材检测的技术领域，包括获取待测量型材断面的二维图像和深度图像，根据深度图像生成三维点云数据；分别对二维图像和三维点云数据进行预处理，对应获得预处理后的二维图像和三维点云数据，输入训练好的毛刺检测模型中，获得二维图像中的毛刺区域；在二维图像上去除所述毛刺区域，获得待测量型材断面的无毛刺图像；对待测量型材断面的无毛刺图像进行校正，获得待测量型材断面的校正图像，在待测量型材断面的校正图像上测量尺寸参数。本发明专利技术能够代替真实去毛刺工艺处理的操作，缩短等待人工打磨的时间成本，消除成像和投影过程中的误差，确保在无干扰的图像上测量尺寸参数，大幅提高检测的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及型材检测的，更具体地，涉及一种基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法与系统。

技术介绍

1、在型材的生产过程中，材料通过挤压成型并经过切割工艺形成特定的断面形状。为了确保这些断面的尺寸符合设计规范，并保证挤压模具不出现影响产品质量的磨损，对型材断面进行精确测量是至关重要的步骤。而在实际生产中，切割后获得的型材断面往往伴随着毛刺的产生，这些毛刺对断面尺寸的测量造成了显著干扰。

2、现有技术中，型材断面尺寸的测量方法通常是先由人工打磨去除毛刺，之后进行测量。这种方法存在以下问题：人工打磨过程费时费力，人力成本高昂，难以满足现代工业生产的需求。人工测量则依赖于操作者的经验和判断，具有较强的主观性，容易因个体差异或判断失误导致测量结果不一致，降低了检测的可靠性。

技术实现思路

1、本专利技术的目的之一在于提供一种基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，以克服上述在工业生产中因毛刺影响无法准确测量型材断面尺寸的缺陷；目的之二在于提供一种基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量系统。本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，所述获取待测量型材断面的二维图像和深度图像，包括：

3.根据权利要求1所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，根据所述深度图像生成三维点云数据，包括：

4.根据权利要求1所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，获得所述训练好的毛刺检测模型，包括：

5.根据权利要求4所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，所述毛刺检测...

【技术特征摘要】

1.一种基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，所述获取待测量型材断面的二维图像和深度图像，包括：

3.根据权利要求1所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，根据所述深度图像生成三维点云数据，包括：

4.根据权利要求1所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，获得所述训练好的毛刺检测模型，包括：

5.根据权利要求4所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，所述毛刺检测模型包括二维特征提取单元、第一多层感知机、第一三维特征下采样单元、第一特征融合单元、第二三维特征下采样单元、第二特征融合单元、第三三维特征下采样单元、第三特征融合单元、第四三维特征下采样单元、第四特征融合单元、第二多层感知机、第一三维特征上采样单元、第二三维特征上采样单元、第三三维特征上采样单元、第四三维特征上采样单元和第三多层感知机；

6.根据权利要求5所述的基于二维图像和三维点云的型材断面尺寸测量方法，其特征在于，所述第一三维特征下采样单元、第二三维特征下采样单元、第三...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘立程，刘柏菁，潘丹，曾安，梁鹏，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：