一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法制造方法及图纸

技术编号:43876101 阅读:33 留言:0更新日期:2024-12-31 18:59
本发明专利技术公开了一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法,转盘安装在输送带上,其上同轴放置待测磁芯并对其进行限位,待测磁芯由多个圆形磁芯堆叠而成;输送带的一侧布置电机驱动的滑块,其端部两侧固连第二滚轮;另一侧布置马达驱动的第一滚轮;光电开关布置在输送带两侧,检测到转盘经过时启动电机、马达,通过第一滚轮和第二滚轮对转盘进行限位和旋转驱动;检测组件布置在输送带的一侧,用于对待测磁芯的侧面图像进行图像采集并将每次拍摄的图像传送至处理器;处理器用于对侧面图像进行图像处理,检测待测磁芯的侧面是否存在缺陷并输出。本发明专利技术能实现圆形磁芯侧面图像的高效、清晰获取。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及质量检测领域,尤其涉及一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法


技术介绍

1、工业产品的质量检测是产品质量的重要一环。在实际的生产过程中,可能会产生各种缺陷,而这些缺陷会对产品的实际使用造成影响。目前大多数生产厂商主要采用人眼识别的方法。人长时间工作会出现视觉疲劳,造成误检、漏检。同时人眼质检需要大量的劳动力成本,极大的增加企业的生产成本。

2、电子产品在日常生活中已经必不可少,而磁芯是电子产品的重要组成部分之一。在实际生产过程中的碰撞、摩擦等现象会导致产品表面出现各种缺陷,影响产品质量。目前针对磁芯侧面的检测方式,主要以人工的方式进行识别,效率低,成本高。而以非人工的方式进行识别,每次仅能检测单个磁芯,检测效率低。而以非人工的方式进行识别,现有技术中存在圆形磁芯侧面图像获取困难、拍摄成像不清晰的问题,且每次仅能检测单个磁芯,检测效率低。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本专利技术提出一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法。

2、具体技术方案如下:</p>

3、一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置,其特征在于,包括输送带、转盘、固定模块、检测模块、处理器;所述输送带沿世界坐标系的x轴正向运动,转盘安装在输送带上,其上同轴放置待测磁芯并对其进行限位,待测磁芯由多个圆形磁芯堆叠而成,其轴线平行于z轴;

2.根据权利要求1所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置,其特征在于,所述转盘包括:限位挡板,以及同轴布置的内盘、连接轴、外盘;所述内盘位于最底端,其下表面与输送带直接接触,内盘中心开设通孔;连接轴分为同轴的上下两段,其中上段能相对下段做同轴旋转;外盘套设在内盘的上端,其下端面开设盲孔,连接轴的上段嵌入该盲孔中,下段嵌入内盘的通孔中,内盘与外盘通过连...

【技术特征摘要】

1.一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置,其特征在于,包括输送带、转盘、固定模块、检测模块、处理器;所述输送带沿世界坐标系的x轴正向运动,转盘安装在输送带上,其上同轴放置待测磁芯并对其进行限位,待测磁芯由多个圆形磁芯堆叠而成,其轴线平行于z轴;

2.根据权利要求1所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置,其特征在于,所述转盘包括:限位挡板,以及同轴布置的内盘、连接轴、外盘;所述内盘位于最底端,其下表面与输送带直接接触,内盘中心开设通孔;连接轴分为同轴的上下两段,其中上段能相对下段做同轴旋转;外盘套设在内盘的上端,其下端面开设盲孔,连接轴的上段嵌入该盲孔中,下段嵌入内盘的通孔中,内盘与外盘通过连接轴实现旋转连接;所述待测磁芯同轴安装在外盘的上表面;

3.根据权利要求2所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置,其特征在于,所述限位挡板的限位主板的内壁面上布置有滚珠。

4.根据权利要求1所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置,其特征在于,所述检测组件包括相机和光源,布置在输送带的一侧;所述光源采用明场照射,能完全照亮位于待检测位置的待测磁芯,且不会遮挡相机拍摄;所述相机采用线阵工业相机,其拍摄方向平行于y轴并正对待测磁芯,用于对待测磁芯的侧面图像进行图像采集;所述相机的参数与转盘的旋转速度相匹配。

5.一种圆形磁芯侧面缺陷检测方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:王宪保左春云钟恩烨周珉
申请(专利权)人:浙江工业大学
类型:发明
国别省市:

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