【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试，特别是涉及一种vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、设备、介质和程序产品。
技术介绍
1、垂直腔面发射激光器（vertical cavity surface emitting laser ，vcsel）是一种广泛应用于光通信领域的半导体激光器。vcsel由于其复杂的制造工艺和工作原理，从而在生产过程中通常需要进行繁多的性能测试项目，包括rin测试、s参数测试等，这些性能测试项目对于保证vcsel的性能和质量是至关重要的。
2、随着光通信领域的快速发展，市面上对于vcsel的生产效率也提出了更高的要求。然而，目前在vcsel的生产过程中，对vcsel进行测试时无法有效利用vcsel已有的测试数据，导致了每一颗vcsel芯片都需要进行全面的性能测试，进而会导致vcsel的测试过程不仅十分繁琐还消耗了大量的时间人力成本。显然地，现有技术这种无法有效利用vcsel已有的测试数据的生产方式，不利于提高vcsel在大规模生产时的生产效率。
技术实现思路
1、基于此，...
【技术保护点】
1.一种VCSEL芯片驰豫振荡频率预估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述RIN测试数据中表征各频率下的RIN强度的数据点集，得到频率响应曲线图，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述初始响应曲线图中的数据点集包括的至少一个数据点进行去噪处理，得到所述频率响应曲线图，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述一阶导数曲线图中零点对应的频率，作为所述VCSEL芯片的理论弛豫
【技术特征摘要】
1.一种vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述rin测试数据中表征各频率下的rin强度的数据点集，得到频率响应曲线图，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述初始响应曲线图中的数据点集包括的至少一个数据点进行去噪处理，得到所述频率响应曲线图，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述一阶导数曲线图中零点对应的频率，作为所述vcsel芯片的理论弛豫振荡频率，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一目标频率范围在所述vcsel芯片的带宽的±10ghz范围内。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘点昊，陈浩，
申请(专利权)人：浙江老鹰半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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