光学元件性能测试装置制造方法及图纸

技术编号:43873457 阅读:20 留言:0更新日期:2024-12-31 18:57
本技术的一种光学元件性能测试装置,包括载台,所述载台上设置测试组件,所述测试组件包括沿物侧到像侧从前到后依次设置的光源、第一光阑、第二光阑、CCD相机,所述待测光学元件设置在所述第二光阑与所述CCD相机之间;所述第一光阑和所述第二光阑的孔径可调整,所述第二光阑设置在所述待测光学元件的进光口处;所述待测光学元件与所述CCD相机之间设有光斑接收部,所述光斑接受部包括乳白胶层和/或投影放大组件,所述乳白胶层的前表面与所述待测光学元件的后表面的间隙τ满足如下条件:τ<20um。本技术有效地解决小尺寸、多区块远距离接收屏接收,每个区块的光斑会相互串扰影响测试结果的问题,同时解决了微透镜阵列中单部品光学元件的光源适配问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学性能测试,尤其涉及一种光学元件性能测试装置


技术介绍

1、在照明光学领域中,常常会搭建光学平台,在距离待测光学元件的出光口较远处会设置一个白屏接收,用于记录从光学系统出射的光斑,然后用ccd相机拍下记录,通过图像处理提取并计算均匀度、对比度、辐照度分布等参数,从而反映光学系统的匀光、整形的效果。这种方式对于整个平面的匀光性能测试有着较为实用的功能,但是当其应用于毫米级尺寸以内的光学元件、且同时需要对多个区块光斑匀光效果进行评测的情况时就会存在限制,若光线不是平行传播,则会存在随着距离变大,形成的多个区块的光斑逐渐互相串扰,导致白屏上的光斑接收的不再是期望的结果。

2、另外,在光学系统中会存在组合的形式,比如成像镜头模组与微透镜阵列匹配实现多个视场光斑匀化的情况。一般为了单独考察微透镜阵列单部品的光学性能,会省去成像镜头模组,此时会存在测试光源如何匹配微透镜阵列问题,因此需要建立合适的平台去使光源入射的方式接近成像模组的入射方式。


技术实现思路

1、本技术的目的在于解决上述问题,提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学元件性能测试装置,包括载台(10),其特征在于,所述载台(10)上设置测试组件,所述测试组件包括沿物侧到像侧从前到后依次设置的光源(1)、第一光阑(2)、第二光阑(3)、CCD相机(7),待测光学元件(5)设置在所述第二光阑(3)与所述CCD相机(7)之间;所述第一光阑(2)和所述第二光阑(3)的孔径可调整,所述第二光阑(3)设置在所述待测光学元件(5)的进光口处;

2.根据权利要求1所述的光学元件性能测试装置,其特征在于,所述乳白胶层直接涂覆设置在所述待测光学元件(5)的后表面上。

3.根据权利要求1所述的光学元件性能测试装置,其特征在于,所述光斑接...

【技术特征摘要】

1.一种光学元件性能测试装置,包括载台(10),其特征在于,所述载台(10)上设置测试组件,所述测试组件包括沿物侧到像侧从前到后依次设置的光源(1)、第一光阑(2)、第二光阑(3)、ccd相机(7),待测光学元件(5)设置在所述第二光阑(3)与所述ccd相机(7)之间;所述第一光阑(2)和所述第二光阑(3)的孔径可调整,所述第二光阑(3)设置在所述待测光学元件(5)的进光口处;

2.根据权利要求1所述的光学元件性能测试装置,其特征在于,所述乳白胶层直接涂覆设置在所述待测光学元件(5)的后表面上。

3.根据权利要求1所述的光学元件性能测试装置,其特征在于,所述光斑接收部还包括玻璃基板(6),所述乳白胶层涂覆在所述玻璃基板(6)的前表面且紧贴所述待测光学元件(5)的后表面设置。

4.根据权利要求2或3所述的光学元件性能测试装置,其特征在于,所述乳白胶层的厚度l满足如下条件:15um<l<50um。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的光学元件性能测试装置,其特征在于,所述投影放大组件包括设置在所述ccd相机(7)的前侧的投影镜头(8...

【专利技术属性】
技术研发人员:程治明黄哲明玉生汪杰陈远
申请(专利权)人:宁波舜宇奥来技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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