【技术实现步骤摘要】
本申请涉及红外图像处理，尤其涉及无挡片的红外测温方法、装置、设备及产品。
技术介绍
1、红外辐射测量技术作为非接触式测温的重要手段，已经广泛应用于各个工业领域和科研场景中。传统的红外测温技术中，常采用带有挡片的设备来过滤或校准测量过程中的杂散光，以提高测温的准确性和稳定性。但是挡片的存在也带来了一系列问题，如增加了设备的复杂性和成本，限制了测温的灵活性和响应速度，同时还可能因为挡片的损坏或污染而影响测温结果。
2、然而，无挡片红外测温仪对红外辐射的感受度较高，但同时也可能接收到更多的背景噪声和无关信息，从而影响温度测量的精确度。
3、因此，如何在无挡片红外测温的过程中提高测温精度，是目前亟需解决的一个问题。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种无挡片的红外测温方法、装置、设备及产品，旨在解决如何在无挡片红外测温的过程中提高测温精度的技术问题。
2、为实现上述目的，本申请提出一种无挡片的红外测温方法，所述的方法包括：
3、对红外图片进...
【技术保护点】
1.一种无挡片的红外测温方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对红外图片进行非均匀校正的步骤，包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对采集到的本底数据进行均值计算，并将本底的像素值减去均值，得到本底偏置，所述均值表示为：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据最小二乘法分析所述机芯温度数据和所述本底偏置，得到第一函数关系式，所述第一函数关系式用于计算红外图像中各个点的拟合偏置的步骤，包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述对应关系数据集...
【技术特征摘要】
1.一种无挡片的红外测温方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对红外图片进行非均匀校正的步骤，包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对采集到的本底数据进行均值计算，并将本底的像素值减去均值，得到本底偏置，所述均值表示为：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据最小二乘法分析所述机芯温度数据和所述本底偏置，得到第一函数关系式，所述第一函数关系式用于计算红外图像中各个点的拟合偏置的步骤，包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述对应关系数据集，拟合q个不同温度黑体的黑体像素与当前机芯温度之间的关系，得到q个不同温度黑体的拟合像素值的步骤，包括：
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据拉...
【专利技术属性】
技术研发人员：何涛，刘珊，叶惠娇，闵越，
申请(专利权)人：武汉旷睿科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。