一种用于超高层建筑基准点测量校正装置制造方法及图纸

技术编号:43870211 阅读:18 留言:0更新日期:2024-12-31 18:55
本技术公开了一种用于超高层建筑基准点测量校正装置,包括固定设置在超高层核心筒上的支撑架,支撑架包括上层架、下层架和设置在上层架与下层架之间的斜撑架,在上层架与下层架上设置有调节孔,在调节孔上滑动安装有支撑杆;在支撑杆上可拆卸安装有靶标和测量仪;在上层架或下层架上安装有直线驱动构件,直线驱动构件一端与支撑杆相连、带动支撑杆水平移动。该装置为建筑测量提供一个稳定可靠的基础,结构简单紧凑,具有一定的调节能力,施工期间可长时间使用,实用性强。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及建筑施工测量配套设备,具体涉及一种用于超高层建筑基准点测量校正装置


技术介绍

1、在超高层建筑施工中,需要准确控制建筑物的垂直度,在测量时需要设置激光接收点并利用全站仪或者卫星接收机来校正接收点的精度,通常情况下测量设备设置在楼板上,但在无楼板的情况下需要搭设支撑架,现阶段使用的通常是在建筑外表面安装两个v形支架,在两个v形支架上方固定安装压型板,然后将激光接收点及全站仪设置在压型板上进行测量作业,但在超高层建筑中,因风、楼层高度等其他因素会使得搭设的压型板产生晃动,使得其稳定性变差,影响测量的精度。


技术实现思路

1、本技术目的是提供一种用于超高层建筑基准点测量校正装置,该装置为建筑测量提供一个稳定可靠的基础,结构简单紧凑,具有一定的调节能力,施工期间可长时间使用,实用性强。

2、为实现上述目的,本技术采取以下技术方案:

3、一种用于超高层建筑基准点测量校正装置,包括固定设置在超高层核心筒上的支撑架,所述支撑架包括上层架、下层架和设置在上层架与下层架之间的斜撑架,在所述上本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于超高层建筑基准点测量校正装置,包括固定设置在超高层核心筒(1)上的支撑架(2),其特征在于:所述支撑架(2)包括上层架(20)、下层架(21)和设置在上层架(20)与下层架(21)之间的斜撑架(22),在所述上层架(20)与所述下层架(21)上设置有调节孔(4),在所述调节孔(4)上滑动安装有支撑杆(5);在所述支撑杆(5)上可拆卸安装有靶标(6)和测量仪(7);在上层架(20)或下层架(21)上安装有直线驱动构件(8),所述直线驱动构件(8)一端与支撑杆(5)相连、带动支撑杆(5)水平移动;在下层架(21)或上层架(20)上滑动安装有辅助支撑件(9),所述辅助支撑件(9)一...

【技术特征摘要】

1.一种用于超高层建筑基准点测量校正装置,包括固定设置在超高层核心筒(1)上的支撑架(2),其特征在于:所述支撑架(2)包括上层架(20)、下层架(21)和设置在上层架(20)与下层架(21)之间的斜撑架(22),在所述上层架(20)与所述下层架(21)上设置有调节孔(4),在所述调节孔(4)上滑动安装有支撑杆(5);在所述支撑杆(5)上可拆卸安装有靶标(6)和测量仪(7);在上层架(20)或下层架(21)上安装有直线驱动构件(8),所述直线驱动构件(8)一端与支撑杆(5)相连、带动支撑杆(5)水平移动;在下层架(21)或上层架(20)上滑动安装有辅助支撑件(9),所述辅助支撑件(9)一端与所述支撑杆(5)相连;在下层架(21)底部可移动安装有激光点捕捉器(11)捕捉激光形成测量控制施工层墙、柱构件的轴线控制点。

2.根据权利要求1所述的用于超高层建筑基准点测量校正装置,其特征在于:在所述超高层核心筒(1)上设置有预埋件(3),所述支撑架(2)固定安装在所述预埋件(3)上。

3.根据权利要求2所述的用于超高层建筑基准点测量校正装置,其特征在于:所述上层架(20)与所述下层架(21)均由槽钢制成,上层架(20)与下层架(21)通过焊接与所述预埋件(3)固定连接。

4.根据权利要求3所述的用于超高层建筑基准...

【专利技术属性】
技术研发人员:张胜良周予启黄曙亮于戈王坚焦俊娟阎斌刘卫未冯文强任耀辉张煜昭张惠丽郑群邓宇丁志刚
申请(专利权)人:中建一局集团建设发展有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1