缺陷检测方法、装置、设备及程序产品制造方法及图纸

技术编号:43864840 阅读:19 留言:0更新日期:2024-12-31 18:52
本申请涉及设备检测技术领域,具体涉及一种缺陷检测方法、装置、设备及程序产品。方法包括:获取待检测屏幕的屏幕图像;定位屏幕图像中的至少一个缺陷区域;基于每一个缺陷区域的区域图像信息,获取每一个缺陷区域分别对应的缺陷特征信息。本申请能够准确地获取屏幕中各个缺陷区域的缺陷特征信息,提升屏幕缺陷识别效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及设备检测,具体涉及一种缺陷检测方法、装置、设备及程序产品


技术介绍

1、电子屏幕的外观缺陷检测是生产线中重要一环。目前,很多生产线仍然通过人工观察的方式,其结果依赖人工经验而不稳定,且生产成本高。或者,采用大津算法、智能算子、图像稀疏表示等多种自动化处理方式对屏幕图像进行处理,从而识别到缺陷。但是采用上述方法时,只能识别到少部分特定种类的缺陷,而且只能识别到各个缺陷点,无法进一步得到缺陷相关信息,从而导致缺陷识别的准确性较低。


技术实现思路

1、基于上述现有技术的缺陷和不足,本申请提出一种缺陷检测方法、装置、设备及程序产品,能够准确地获取屏幕中各个缺陷区域的缺陷特征信息,提升屏幕缺陷识别效率。

2、根据本申请实施例的第一方面,提供了一种缺陷检测方法,包括:获取待检测屏幕的屏幕图像;定位所述屏幕图像中的至少一个缺陷区域;基于每一个所述缺陷区域的区域图像信息,获取每一个所述缺陷区域分别对应的缺陷特征信息。

3、根据本申请实施例第一方面提供的缺陷检测方法,所述基于每一个所述缺陷区本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述基于每一个所述缺陷区域的区域图像信息,获取每一个所述缺陷区域分别对应的缺陷特征信息,包括:

3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述基于每一个所述缺陷区域的区域图像信息,获取每一个所述缺陷区域分别对应的缺陷特征信息,包括:

4.根据权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述获取待检测屏幕的屏幕图像,包括:

5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述获取待检测屏幕的屏幕图像,包括:

6.根据权利要求1所述的...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述基于每一个所述缺陷区域的区域图像信息,获取每一个所述缺陷区域分别对应的缺陷特征信息,包括:

3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述基于每一个所述缺陷区域的区域图像信息,获取每一个所述缺陷区域分别对应的缺陷特征信息,包括:

4.根据权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述获取待检测屏幕的屏幕图像,包括:

5.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗杨泉徐辰王建勋甄琰赵善民邹晨风
申请(专利权)人:转转一零二四北京科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1