一种ATE测试设备制造技术

本发明专利技术涉及ATE测试技术领域，且公开了一种ATE测试设备，包括替换机构、外壳机构和测试机构，所述替换机构位于测试机构的外部，所述外壳机构位于测试机构的外部，所述替换机构包括气缸一、工位一和导柱，所述气缸一固定安装于测试机构的底端且贯穿测试机构，所述工位一固定安装于气缸一的传动端，所述导柱固定安装于工位一的底端且贯穿测试机构。该ATE测试设备安装了替换机构，通过移动板限定气缸一的位置，气缸一限定工位一的位置，工位一、移动板限定导柱的位置，便于移动板带动工位一移动至敲击头下方时，气缸一驱动工位一上升与工位二平齐，并利用导柱来使工位一升降更加平稳，从而方便与工位二交替替换使用，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及ate测试，具体为一种ate测试设备。

技术介绍

1、在所有的电子元器件中的制造工艺里面，存在这去伪存真的需要，这种需要实际上是一个测试的过程，为了实现这种过程，就需要一种ate测试设备对电子元器件进行测试；

2、现有的，将电子元器件定位在ate测试设备的测试工位上，通过测试设备的测试机构对电子元器件进行测试，能够筛选残次品，防止其进入下一道的工序，减少下一道工序中的冗余的制造费用；

3、但现有的ate测试设备只有一个测试工位，无法交替替换着上料和下料，导致上料和下料的过程需要占用大量的时间，降低了测试效率。

技术实现思路

1、（一）解决的技术问题

2、本专利技术的目的在于提供一种ate测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出现有的ate测试设备只有一个测试工位，无法交替替换着上料和下料，导致上料和下料的过程需要占用大量的时间，降低了测试效率的问题。

3、（二）技术方案

4、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种ate测试设备，包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种ATE测试设备，包括替换机构（1）、外壳机构（2）和测试机构（3），其特征在于：所述替换机构（1）位于测试机构（3）的外部，所述外壳机构（2）位于测试机构（3）的外部，所述替换机构（1）包括气缸一（101）、工位一（102）和导柱（103），所述气缸一（101）固定安装于测试机构（3）的底端且贯穿测试机构（3），所述工位一（102）固定安装于气缸一（101）的传动端，所述导柱（103）固定安装于工位一（102）的底端且贯穿测试机构（3）。

2.根据权利要求1所述的一种ATE测试设备，其特征在于：所述外壳机构（2）包括工作台（201）、工控机（202）、散热风扇（203...

【技术特征摘要】

1.一种ate测试设备，包括替换机构（1）、外壳机构（2）和测试机构（3），其特征在于：所述替换机构（1）位于测试机构（3）的外部，所述外壳机构（2）位于测试机构（3）的外部，所述替换机构（1）包括气缸一（101）、工位一（102）和导柱（103），所述气缸一（101）固定安装于测试机构（3）的底端且贯穿测试机构（3），所述工位一（102）固定安装于气缸一（101）的传动端，所述导柱（103）固定安装于工位一（102）的底端且贯穿测试机构（3）。

2.根据权利要求1所述的一种ate测试设备，其特征在于：所述外壳机构（2）包括工作台（201）、工控机（202）、散热风扇（203）、双手启动按钮（204）、复位急停按钮（205）、防护罩（206）和显示器（207），所述工控机（202）固定设置于工作台（201）的前端，所述散热风扇（203）固定设置于工作台（201）的外端。

3.根据权利要求2所述的一种ate测试设备，其特征在于：所述双手启动按钮（204）固定设置于工作台（201）的顶端，所述复位急停按钮（205）固定设置于工作台（201）的前端。

4.根据权利要求3所述的一种ate测试设备，其特征在于：所述防护罩（206）固定安装于工作台（201）的顶端，所述显示器（207）固定安装于防护罩（206）的前端。

5.根据权利要求4所述的一种ate测试设备，其特征在于：所述测试机构（3）包括安装板（301）、升降导轨（302）、安装架（303）、...

【专利技术属性】
技术研发人员：李道松，
申请(专利权)人：润辉智能科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：