【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及高能量密度物理领域，具体涉及一种应用于条纹透射光栅谱仪的宽度二次渐变光阴极设计方法。
技术介绍
1、在高能量密度物理、惯性约束聚变、实验室天体物理等领域中，x光谱是重要诊断手段。x光谱时变特性反映了系统内等离子体温度、平衡性等时变信息。通常，宽能区时变x光谱采用dante谱仪测量，然而其时间分辨仅有200ps，能谱分辨也较低。
2、透射光栅和x光条纹相机组成的x光条纹透射光栅谱仪是实现宽能区数十ps高时间分辨x光谱测量的重要工具，参照图1。然而，透射光栅零级强度远超其余各衍射级，且透射光栅谱仪对高能x光色散率低，对低能x光色散率高，导致高能和低能区色散信号强度差异巨大。透射光栅衍射光谱信号强度差异往往达到103～104量级，远远超出了x光条纹相机的动态范围，导致条纹透射光栅谱仪记录的能谱分布扭曲，难以定量反演等离子体x光谱。因此，在icf黑腔能量学、辐射与物质相互作用等领域，x光条纹透射光栅谱仪尚难以广泛应用。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供一种应用于...
【技术保护点】
1.一种应用于条纹透射光栅谱仪的宽度二次渐变光阴极设计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的应用于条纹透射光栅谱仪的宽度二次渐变光阴极设计方法，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的应用于条纹透射光栅谱仪的宽度二次渐变光阴极设计方法，其特征在于：光阴极宽度在范围内，条纹变像管时间分辨劣化小于20％。
4.根据权利要求1所述的应用于条纹透射光栅谱仪的宽度二次渐变光阴极设计方法，其特征在于：在所述步骤S2中，光阴极狭缝上下边缘关于X轴对称。
【技术特征摘要】
1.一种应用于条纹透射光栅谱仪的宽度二次渐变光阴极设计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的应用于条纹透射光栅谱仪的宽度二次渐变光阴极设计方法，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的应用于条纹透射光栅谱仪...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱托，黄成武，宋天明，何小安，况龙钰，李晋，张文海，董云松，杨家敏，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：发明
国别省市：
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