【技术实现步骤摘要】
本公开涉及测试，尤其是一种待测器件的测试方法、系统和测试机。
技术介绍
1、在测试
，通过测试机系统对晶圆、芯片等待测器件进行测试已被广泛应用，相关技术中，在进行测试时，由于用户测试程序在运行过程中容易发生崩溃的情况，会影响整个测试机系统，导致测试机系统稳定性较差。
技术实现思路
1、本公开实施例提供一种待测器件的测试方法、系统和测试机，通过测试机系统进程运行测试机系统相关程序，通过测试程序宿主进程独立地运行用户测试程序，避免用户测试程序崩溃对测试机系统的影响，从而有效提高测试机系统的稳定性。
2、本公开实施例的一个方面，提供一种待测器件的测试方法，包括：
3、测试机系统进程向测试程序宿主进程转发上位机的测试命令；
4、所述测试程序宿主进程根据所述测试命令，运行对应的用户测试程序，以对待测器件进行测试，获得所述待测器件对应的测试结果。
5、在本公开的一些可选的实施例中，在测试机系统进程向测试程序宿主进程转发上位机的测试命令之前，还包括：
6、所本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种待测器件的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在测试机系统进程向测试程序宿主进程转发上位机的测试命令之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述测试程序宿主进程根据所述测试命令，运行对应的用户测试程序之前，还包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：
7.一种待测器件的测试系统，其特征在于，包括：
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