封装结构及其制备方法和终端设备技术

技术编号:43829324 阅读:24 留言:0更新日期:2024-12-31 18:29
本申请提供了一种封装结构及其制备方法和终端设备。封装结构包括:基板,基板包括第一表面和至少一个凹槽,凹槽的开口位于第一表面;至少一个芯片,芯片置于凹槽中,芯片的正面与第一表面之间较小的夹角为70°~90°;第一导电结构,位于基板的凹槽的开口侧,第一导电结构与芯片电连接。本申请实施例的封装结构的集成度较高,可减小封装面积,实现器件小型化。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体,具体涉及封装结构及其制备方法和终端设备


技术介绍

1、半导体工业的新近趋势是产品集成度高、薄、轻、快、多功能并且高效,从而具有高可靠性。为了迎合上述趋势,芯片堆叠封装技术被视为半导体领域的重要技术,目前一般在封装结构中将芯片进行堆叠设置。芯片堆叠封装结构中,多个芯片需要彼此电连接,目前主要是使用贯穿芯片的贯通电极将芯片彼此电连接,然而受限于相关技术,现有的封装结构实现芯片堆叠的效果并不理想。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请实施例提供了一种封装结构及其制备方法和终端设备。

2、本申请第一方面提供了一种封装结构,包括:

3、基板,基板包括第一表面和至少一个凹槽,凹槽的开口位于第一表面;

4、至少一个芯片,芯片置于凹槽中,芯片的正面与第一表面之间较小的夹角为70°~90°;

5、第一导电结构,位于基板的凹槽的开口侧,第一导电结构与芯片电连接。

6、在一个实施例中,在第一方向上,凹槽在第一表面的正投影具有第一宽度,在第二方向上,凹槽在本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种封装结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,在第一方向上,所述凹槽在所述第一表面的正投影具有第一宽度,在第二方向上,所述凹槽在所述第一表面的正投影具有第二宽度,所述第二宽度的大于所述第一宽度,沿所述基板的厚度方向,所述凹槽的深度大于所述第一宽度,所述第一方向与所述第二方向互相垂直;

3.根据权利要求2所述的封装结构,其特征在于,所述芯片包括芯片本体和第二导电结构,所述第二导电结构位于所述芯片本体的正面,所述第一导电结构与所述第二导电结构电连接;

4.根据权利要求1~3任一项所述的封装结构,其特征在于,一个所述凹槽...

【技术特征摘要】

1.一种封装结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,在第一方向上,所述凹槽在所述第一表面的正投影具有第一宽度,在第二方向上,所述凹槽在所述第一表面的正投影具有第二宽度,所述第二宽度的大于所述第一宽度,沿所述基板的厚度方向,所述凹槽的深度大于所述第一宽度,所述第一方向与所述第二方向互相垂直;

3.根据权利要求2所述的封装结构,其特征在于,所述芯片包括芯片本体和第二导电结构,所述第二导电结构位于所述芯片本体的正面,所述第一导电结构与所述第二导电结构电连接;

4.根据权利要求1~3任一项所述的封装结构,其特征在于,一个所述凹槽中放置一个所述芯片;

5.根据权利要求1~3任一项所述的封装结构,其特征在于,一个所述凹槽中放置两个所述芯片,同一个所述凹槽中,两个所述芯片的背面相对设置;

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:张文斌吕奎周衍旭
申请(专利权)人:江苏汇显显示技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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