【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及制备金属薄膜,尤其涉及一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法。
技术介绍
1、为满足特定金属基材在不同工况环境中的可靠使用,可通过在其表面构建一层微米级的具有独特组成、结构和性质的金属薄膜,以赋予其表面所需的物化性能,如较高的强度或硬度,优异的抗高温氧化、耐磨耐腐蚀性、与基体不同的导电性或形状记忆性等功能,从而极大地拓展金属基材在军事、民用等领域的应用范围。
2、目前金属薄膜的制备方法有磁控溅射沉积、真空蒸发镀膜、电化学沉积和热喷涂。
3、磁控溅射沉积的基本原理是在阴极和阳极之间加高电压,利用电子在电场的作用下加速飞向基片的过程中与氩原子发生碰撞,电离出大量的氩离子和电子,电子飞向基片。氩离子在电场的作用下加速轰击靶材,溅射出大量的靶材原子,呈中性的靶原子(或分子)沉积在基片上成膜。该种技术的特点是成膜速率高,基片温度低,膜的粘附性好。通过改变工艺参数和目标成分,可以灵活控制薄膜的组成和性能。所制备的金属薄膜成分均匀,密度和性能好,同时沉积速率高,与衬底结合强度好,通过引入反应气体还可获得氮化薄膜。
...【技术保护点】
1.一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,
2.根据权利要求1所述一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,所述步骤1,还包括如下步骤:
3.根据权利权利要求2所述一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,所述步骤1.1,成膜主剂与固化剂的质量比为10:1-5:1,固化温度25-80℃,固化时间3-8h,熟化温度90℃,熟化时间1h。
4.根据权利权利要求2所述一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,所述步骤1.2,金属粉体为50-200μm,涂覆量为1mg/cm2-15mg/cm2。<
...【技术特征摘要】
1.一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,
2.根据权利要求1所述一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,所述步骤1,还包括如下步骤:
3.根据权利权利要求2所述一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,所述步骤1.1,成膜主剂与固化剂的质量比为10:1-5:1,固化温度25-80℃,固化时间3-8h,熟化温度90℃,熟化时间1h。
4.根据权利权利要求2所述一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,所述步骤1.2,金属粉体为50-200μm,涂覆量为1mg/cm2-15mg/cm2。
5.根据权利要求1所述一种基于透明介质约束的金属薄膜制备方法,其特征在于,所述透明介质包括高透亚克力膜,改性pe膜或pp膜任一种。
6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:张永彬,叶展鹏,胡殷,杨瑞龙,周师田,王烨,朱康伟,苏悦,陈道明,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院材料研究所,
类型:发明
国别省市:
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