【技术实现步骤摘要】
本申请涉及数据校验，特别是涉及一种数据校验方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、在数据读写的过程中，为了保持存储系统中数据的完整性和一致性，可以通过数据一致性校验方法对数据的一致性进行校验。传统技术中，数据一致性校验主要是采用全量扫描的方式，即获取存储系统中所有的数据块和校验块，然后对其进行扫描校验。
2、然而，传统技术中存在无法及时对不一致数据进行校验，导致数据一致性校验效率较低的问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高数据一致性校验效率的数据校验方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种数据校验方法。所述方法包括：
3、获取存储系统中的固态硬盘ssd在预设时间段内的数据校验失败次数，所述数据校验失败次数包括自检错误次数和/或输入输出错误eio次数；
4、在所述数据校验失败次数大于第一阈值的情况下，对所述ssd进行数据一
<本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种数据校验方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据校验失败次数包括所述EIO次数，所述获取存储系统中的SSD在预设时间段内的数据校验失败次数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述IO请求中包括第一校验信息和数据标识，所述根据所述IO请求对所述SSD进行输入输出校验，得到校验结果，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据校验失败次数包括所述自检错误次数，所述获取存储系统中的SSD在预设时间段内的数据校验失败次数，包括：
5.根据权利要求1...
【技术特征摘要】
1.一种数据校验方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据校验失败次数包括所述eio次数，所述获取存储系统中的ssd在预设时间段内的数据校验失败次数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述io请求中包括第一校验信息和数据标识，所述根据所述io请求对所述ssd进行输入输出校验，得到校验结果，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据校验失败次数包括所述自检错误次数，所述获取存储系统中的ssd在预设时间段内的数据校验失败次数，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述ssd的数量为多个，所述方法还包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：聂楷，何振，周后兵，杨鑫宇，曹龙杰，
申请(专利权)人：曙光信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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