一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法技术方案

本发明专利技术属于红外遥感和红外空间技术领域，公开了一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法，包括初始化成像系统光学与探测器参数；选取图像质量定量化评价指标；对评估指标进行正向化处理；构建基于TOPSIS熵权法的红外系统图像质量定量化评估模型；根据模型评价结果选择最优系统参数；本发明专利技术先设置红外探测系统光学系统与探测器系统的探测参数，然后选取的红外系统图像质量定量化参数，通过TOPSIS熵权法对红外系统图像质量定量化评估，根据评估结果选择最优的探测参数；本发明专利技术提供了一种红外成像系统图像质量定量化评估方法，该方法选出的探测参数能够有效提升红外图像质量，适用于红外技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及红外遥感和红外空间，尤其涉及一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法。

技术介绍

1、在红外遥感领域，传统的红外系统成像评估算法通常仅考虑了单一特性，利用调制传递函数mtf、噪声等效温差netd、最小可分辨温差mrtd某个单一指标评估仿真系统和真实系统性能，已经成为了传统光电系统性能评价的标准。传统评估模型存在一定的主观性，不同实验条件下测试结果有很大的差别，且对非线性响应因素考虑不足，难以支撑系统整体性能的评估。

2、在现代载荷设计中，许多参数是互相制约的：追求弱小目标探测性能需要提高载荷的灵敏度，会带来疑似目标的增加与虚警率的上升，因此选取合适的红外图像质量定量化评估指标至关重要。

3、红外成像系统图像评估体系首先由特定探测任务需求出发，衍射极限gsd或角分辨率是光学系统设计的强约束指标，过高分辨率需求将导致光学口径需求过大，工程难以实现，进一步会限制光学视场；光学品质因数q、探测距离r、像元尺寸dx以及截止波长λmax共同决定了光学焦距f、最小口径需求dmin以及f#数；在探测器性能方面，需求的灵敏度开始由背景本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法，其特征在于：在S101中，初始化的光学系统参数包括：相机口径D、焦距、探测距离、光学效率、中心波长、能量集中度和瞬时视场；初始化的探测器参数包括：像元尺寸、暗电流、积分时间、仪器背景噪声、读出噪声、满阱电子数、非均匀性、量化位数与量子效率。

3.根据权利要求2所述的一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法，其特征在于：在S102中选取红外成像系统图像质量评价指标，选取的评价指标为光学系统核心参数与探测器系统核心参数，共有...

【技术特征摘要】

1.一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法，其特征在于：在s101中，初始化的光学系统参数包括：相机口径d、焦距、探测距离、光学效率、中心波长、能量集中度和瞬时视场；初始化的探测器参数包括：像元尺寸、暗电流、积分时间、仪器背景噪声、读出噪声、满阱电子数、非均匀性、量化位数与量子效率。

3.根据权利要求2所述的一种天基红外成像系统图像质量定量化评估方法，其特征在于：在s102中选取红外成像系统图像质量评价指标，选取的评价指标为光学系统核心参数与探测器系统核心参数，共有：系统f数、地面分辨率、光学衍射极限分辨...

【专利技术属性】
技术研发人员：饶鹏，孙纹，李夜金，洪杨，刘广森，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：