一种多粒径机制砂球形度检测方法技术

技术编号:43748892 阅读:23 留言:0更新日期:2024-12-20 13:07
本发明专利技术公开了一种多粒径机制砂球形度检测方法,具体涉及建筑材料技术领域,包括S1、检测区域确定:用于对目标待检测机制砂按照砂粒最大半径的不同划分为各检测子区域;S2、信息采集:用于对S1所得筛选后的砂粒进行数据采集得到砂粒特征数据,并将其输送至数据处理步骤;本发明专利技术通过对粒径分布影响、粒形狭长程度影响、粒形扁平程度影响以及粒形球形度影响多方面对砂粒进行判断,能够灵活应对不同粒径和形状的机制砂样品,全面满足多粒径机制砂球形度的检测需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及建筑材料,更具体地说,本专利技术涉及一种多粒径机制砂球形度检测方法


技术介绍

1、在建筑工程中,机制砂的形状特性对混凝土建筑材料的性能有着重要影响,机制砂的颗粒形状影响拌合物的流动性、粘聚性和保水性;因此,开发一种多粒径机制砂球形度检测方法,对更好地控制机制砂质量具有重要意义。

2、传统的砂球形度检测方法包括样品准备、标准筛分以及球形度计算,其中球形度计算对机制砂样品进行标准化处理,以消除样品中的水分、大颗粒杂质和小于一定粒径的石粉;标准筛分选取代表性机制砂样品,经过一系列标准套筛,筛分结束后分别称量各筛筛余试样的质量,并通过用电子天平称取各筛筛余质量,将数据记录在原始记录上后,进行人工计算;球形度计算根据漏斗排空时间测定收集的数据,结合预设的公式或模型,计算各粒级机制砂样品的球形度。

3、但是其在实际使用时,仍旧存在一些缺点,如适用范围有限,传统方法往往针对特定粒径或形状的机制砂样品进行检测,难以全面覆盖多粒径机制砂的球形度检测需求;测量精度有限,传统方法的计算方式仅在测量球形颗粒有较好表现,在测量非球形颗粒或微小本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种多粒径机制砂球形度检测方法,包括运行数据库、中央处理器和用户信息端,其特征在于,还包括存储区域确定步骤、信息采集步骤、数据处理步骤、综合数据分析步骤以及人机交互步骤;

2.根据权利要求1所述的一种多粒径机制砂球形度检测方法,其特征在于:所述检测区域确定用于获取针对目标检测区域确定的用于目标检测体系的至少一个检测范围,将目标待检测机制砂置于自动化筛分装置顶层筛网,启动装置进行筛分,并按照筛分孔径的最大孔径对砂粒最大半径的不同划分为各检测子区域。

3.根据权利要求1所述的一种多粒径机制砂球形度检测方法,其特征在于:所述砂粒特征数据包括粒径分布影响参数、粒形狭长...

【技术特征摘要】

1.一种多粒径机制砂球形度检测方法,包括运行数据库、中央处理器和用户信息端,其特征在于,还包括存储区域确定步骤、信息采集步骤、数据处理步骤、综合数据分析步骤以及人机交互步骤;

2.根据权利要求1所述的一种多粒径机制砂球形度检测方法,其特征在于:所述检测区域确定用于获取针对目标检测区域确定的用于目标检测体系的至少一个检测范围,将目标待检测机制砂置于自动化筛分装置顶层筛网,启动装置进行筛分,并按照筛分孔径的最大孔径对砂粒最大半径的不同划分为各检测子区域。

3.根据权利要求1所述的一种多粒径机制砂球形度检测方法,其特征在于:所述砂粒特征数据包括粒径分布影响参数、粒形狭长程度影响参数、粒形扁平程度影响参数以及粒形球形度影响参数。

4.根据权利要求3所述的一种多粒径机制砂球形度检测方法,其特征在于:所述粒径分布影响参数包括砂粒质量,记作m;砂粒体积,记作v;粒形扁平程度影响参数包括砂粒长径,记作d;砂粒短径,记作d;外轮廓线周长,记作c;粒形扁平程度影响参数包括俯视颗粒投影面积,记作s1;左视颗粒投影面积,记作s2;下视颗粒投影面积,记作s3;粒形球形度影响参数包括砂粒长径,记作d;砂粒短径,记作d;砂粒厚度,记作r;砂粒表面积,记作a;砂粒体积,记作v。

5.根据权利要求1所述的一种多粒径机制砂球形度检测方法,其特征在于:所述信息采集使用高精度电子秤将自动测量并记录筛余质量,利用高分辨率摄像头对筛分后的各粒径段机制砂样品进行拍照,获取清晰的颗粒图像,将颗粒图像输入到图像处理软件中,识别颗粒的砂粒体积、砂粒表面积、砂粒长径,砂粒短径...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈成李经纬姚静茹
申请(专利权)人:江苏江南检测有限公司
类型:发明
国别省市:

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