【技术实现步骤摘要】
本申请涉及材料领域,具体而言,涉及一种掺氟氧化锡靶材的制备方法。
技术介绍
1、in2o3基透明导电材料是目前工业界最常用的透明导电氧化物(tco),但由于铟金属的稀有性以及in2o3在还原性气氛及相对高湿度空气环境下的不稳定性,近些年来,氧化锡基的tco薄膜作为氧化铟基tco薄膜的替代品被开发利用,其中最受关注的掺氟氧化锡(fto)薄膜被广泛用于太阳能电池、触摸屏液晶显示屏、薄膜晶体管、有机和无机半导体激光器、隔热节能玻璃等
2、目前,制备fto薄膜的主要方法包括溶胶水热法、喷雾热解法、化学气相沉积法(cvd)以及物理气相沉积法(pvd)。其中,物理气相沉积方法(pvd),如磁控溅射法(ms)、反应等离子体沉积法(rpd)、离子束溅射法(is)等,由于成本低、工艺简单、兼容低温工艺、易于操作从而适合于大规模工业生产的特点获得了广泛的应用。利用物理气相沉积法(pvd)制备氧化锡基透明导电氧化物薄膜成为行业研究的一大热点。
3、工业上常用于物理气相沉积法(pvd)制备掺氟氧化锡(fto)薄膜的靶材为非金属
...【技术保护点】
1.一种掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
3.根据权利要求1或2所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
4.根据权利要求1或2所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
5.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
6.根据权利要求5所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
7.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
8.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡靶材的制备
...【技术特征摘要】
1.一种掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
3.根据权利要求1或2所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
4.根据权利要求1或2所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
5.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡靶材的制备方法,其特征在于,
【专利技术属性】
技术研发人员:陈兴谦,杜小龙,李昊臻,刘尧平,
申请(专利权)人:松山湖材料实验室,
类型:发明
国别省市:
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