【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及超快诊断，更具体地说，涉及一种无增益微通道板二维分幅成像系统。
技术介绍
1、超快诊断技术主要应用于基础前沿科学、国家大科学工程、国防科技、战略高技术等，是一种重要且唯一的二维超快诊断设备。例如用于激光惯性约束聚变(inertialconfinement fusion,icf)研究，对1-2ns的x射线辐射过程进行探测，x射线分幅成像相机可获得icf等离子体x射线辐射的二维空间分布及其时间特性，而如何提高时间分辨率是业内的不断追求。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题在于，提供一种无增益微通道板二维分幅成像系统。
2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种无增益微通道板二维分幅成像系统，包括真空漂移管、长短磁组合式透镜、无增益电子束时间放大器、门控微通道板探测器和脉冲发生器，所述长短磁组合式透镜环绕在所述真空漂移管外侧，所述无增益电子束时间放大器位于所述真空漂移管的入射端，所述门控微通道板探测器位于所述真空漂移管的出射端，所述真空漂移管内入...
【技术保护点】
1.一种无增益微通道板二维分幅成像系统，其特征在于，包括真空漂移管(10)、长短磁组合式透镜(20)、无增益电子束时间放大器(30)、门控微通道板探测器(40)和脉冲发生器(50)，所述长短磁组合式透镜(20)环绕在所述真空漂移管(10)外侧，所述无增益电子束时间放大器(30)位于所述真空漂移管(10)的入射端，所述门控微通道板探测器(40)位于所述真空漂移管(10)的出射端，所述真空漂移管(10)内入射端和出射端之间的区域为电子漂移区；
2.根据权利要求1所述的无增益微通道板二维分幅成像系统，其特征在于，所述无增益微通道板(302)的外径为106mm，厚...
【技术特征摘要】
1.一种无增益微通道板二维分幅成像系统，其特征在于，包括真空漂移管(10)、长短磁组合式透镜(20)、无增益电子束时间放大器(30)、门控微通道板探测器(40)和脉冲发生器(50)，所述长短磁组合式透镜(20)环绕在所述真空漂移管(10)外侧，所述无增益电子束时间放大器(30)位于所述真空漂移管(10)的入射端，所述门控微通道板探测器(40)位于所述真空漂移管(10)的出射端，所述真空漂移管(10)内入射端和出射端之间的区域为电子漂移区；
2.根据权利要求1所述的无增益微通道板二维分幅成像系统，其特征在于，所述无增益微通道板(302)的外径为106mm，厚度为1mm；所述无增益通道(3023)的直径为35μm，通道斜切角的取值范围为6°至8°，相邻所述无增益通道(3023)之间的间距为39μm；
3.根据权利要求1所述的无增益微通道板二维分幅成像系统，其特征在于，所述增益微通道板(403)的外径106mm，厚度为0.5mm；每条所述增益通道(4033)的通道直径为12μm，通道斜切角的取值范围为6°至8°，相邻所述增益通道(4033)之间的间距为14μm；
4.根据权利要求3所述的无增益微通道板二维分幅成像系统，其特征在于，每条所述增益通道(4033)的输入口和输出口蒸镀进预设深度的铜层和金层，所述铜层位于底层，所述金层位于表层。
5.根据权利要求1所述的无增益微通道板二维分幅成像系统，其特征在于，所述无增益微通道板(302)的微带...
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