一种可多角度适配的基坑自检装置制造方法及图纸

本技术涉及测量设备技术领域，尤其涉及一种可多角度适配的基坑自检装置。本技术提供一种能够精准测量，并且适用于复杂基坑地形的可多角度适配的基坑自检装置。一种可多角度适配的基坑自检装置，包括有底座、卡杆、第一刻度板和第二刻度板等，底座中部上侧连接有第一刻度板，第一刻度板上滑动式连接有卡杆，第一刻度板上部转动式连接有第二刻度板，第二刻度板与卡杆之间滑动式连接。本技术通过第一刻度板与第二刻度板之间配合，从而对基坑深度进行稳定测量，提高了测量的精准性，并且通过支撑座对基坑内底部位置进行贴合适配，从而对基坑内不平整的地形进行多角度测量，提高了测量的适配性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量设备，尤其涉及一种可多角度适配的基坑自检装置。

技术介绍

1、基坑是指为了建造地下建筑物或工程而在地面上挖掘的深而宽的坑或洞。基坑通常是在城市建设中挖掘的，用于建造地下停车场、地下商店、地下通道、地下车站、地下储罐、地下隧道等地下结构，它们也可能用于建造高楼大厦的地基基础，如深基坑大楼或高层建筑物，在基坑挖掘后需要对基坑底部位置进行测量，从而确保基坑深度符合使用要求，但是现在一般通过人工使用卷尺对基坑深度进行测量，由于卷尺的柔软性较大，在测量时容易产生弯曲，影响测量的精准性，并且在对基坑底部出现斜面时，卷尺难以对斜面深度进行测量，测量适配性较低。

2、因此针对上述问题现在研发一种能够精准测量，并且适用于复杂基坑地形的可多角度适配的基坑自检装置。

技术实现思路

1、为了克服现在一般通过人工使用卷尺对基坑深度进行测量，由于卷尺的柔软性较大，在测量时容易产生弯曲，影响测量的精准性，并且在对基坑底部出现斜面时，卷尺难以对斜面深度进行测量，测量适配性较低的缺点，本技术提供一种能够精准测量，并且本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种可多角度适配的基坑自检装置，其特征在于，包括有底座(1)、卡杆(2)、第一刻度板(3)和第二刻度板(4)，底座(1)中部上侧连接有第一刻度板(3)，第一刻度板(3)上滑动式连接有卡杆(2)，第一刻度板(3)上部转动式连接有第二刻度板(4)，第二刻度板(4)与卡杆(2)之间滑动式连接，还包括有适配机构(5)，适配机构(5)包括有第一固定座(51)、第二固定座(52)、支撑座(53)和第一扭簧(54)，底座(1)中部下侧连接有第一固定座(51)，第一固定座(51)下部转动式连接有两个第二固定座(52)，后侧第二固定座(52)与第一固定座(51)之间连接有第一扭簧(54)，第二固定座(...

【技术特征摘要】

1.一种可多角度适配的基坑自检装置，其特征在于，包括有底座(1)、卡杆(2)、第一刻度板(3)和第二刻度板(4)，底座(1)中部上侧连接有第一刻度板(3)，第一刻度板(3)上滑动式连接有卡杆(2)，第一刻度板(3)上部转动式连接有第二刻度板(4)，第二刻度板(4)与卡杆(2)之间滑动式连接，还包括有适配机构(5)，适配机构(5)包括有第一固定座(51)、第二固定座(52)、支撑座(53)和第一扭簧(54)，底座(1)中部下侧连接有第一固定座(51)，第一固定座(51)下部转动式连接有两个第二固定座(52)，后侧第二固定座(52)与第一固定座(51)之间连接有第一扭簧(54)，第二固定座(52)下侧之间连接有支撑座(53)。

2.根据权利要求1所述的一种可多角度适配的基坑自检装置，其特征在于，还包括有卡紧机构(6)，卡紧机构(6)包括有第一固定架(61)、转动板(62)、第二固定架(63)、卡件(64)和...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜文贺，徐冬雪，胡宏达，万泽君，周单，
申请(专利权)人：江铃汽车集团江西工程建设有限公司，
类型：新型
国别省市：