高纯细晶钽靶材及其制备方法技术

技术编号:43673281 阅读:24 留言:0更新日期:2024-12-18 20:58
本发明专利技术提供了一种高纯细晶钽靶材及其制备方法,涉及难熔金属靶材制备的技术领域,包括如下步骤:钽锭的制备、第一次锻造坯料、第一次热处理、第二次锻造坯料、第二次热处理、轧制、第三次热处理和机加工。本发明专利技术首先将钽条熔炼成钽铸锭,然后依次经锻造、轧制、热处理、机加工,最终得到纯钽靶材,通过大变形量的锻压变形使得钽内部晶粒得到充分破碎细化,进一步减少局部晶粒不均匀的现象,从而得到晶粒尺寸范围在15~25μm的等轴晶钽靶材,实现了在确保组织均匀的同时,还可以进一步细化晶粒,满足了镀膜对高纯细晶钽靶材的需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及难熔金属靶材制备,尤其是涉及一种高纯细晶钽靶材及其制备方法


技术介绍

1、溅射镀膜技术利用高能离子轰击靶材表面,使靶材材料均匀沉积在基体表面。该技术在半导体、微电子、微波等领域均得到了广泛应用,是制备功能性薄膜的有效方法之一。目前行业中常将具备高导电性能的金属材料与硅基体相结合,形成电子元器件结构。但在一定温度下,高活性的金属层材料会向si基底进行扩散并与之反应形成化合物,会降低器件使用寿命。

2、钽金属不仅具有高导电性、高热稳定性,而且可以有效阻挡原子扩散,是作扩散阻挡层的理想材料,因此钽金属靶材具有较大的市场需求。目前制备钽靶材的主要方法包括熔炼铸造法以及粉末冶金法,熔炼铸造法指的是利用电子束、电弧等高能量源将钽金属熔化,并以一定速率冷却形成铸锭。相比于粉末冶金法,利用熔炼铸造方法制备出的钽靶材气体杂质含量更低、致密度更高、性能一致性更高。

3、溅射薄膜的性能受靶材的成分均匀性、晶粒度以及尺寸稳定性等多种因素影响,其中靶材晶粒尺寸对薄膜沉积速率以及沉积均匀性具有重要影响。随着集成电路精细化程度的不断提升,也同时要本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,步骤S1中,具体包括如下步骤:利用电子束熔炼炉对烧结钽条进行熔炼,然后浇铸得到钽锭;

3.根据权利要求2所述的高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,所述电子束熔炼炉的熔炼功率为200~220KW,枪室真空度为1×10-3Pa~3×10-3Pa,熔炼炉室真空度为3×10-3Pa~8×10-3Pa。

4.根据权利要求1所述的高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,步骤S2中,依次采用直径为120mm、100mm及80mm的锻造模具进行三...

【技术特征摘要】

1.一种高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,步骤s1中,具体包括如下步骤:利用电子束熔炼炉对烧结钽条进行熔炼,然后浇铸得到钽锭;

3.根据权利要求2所述的高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,所述电子束熔炼炉的熔炼功率为200~220kw,枪室真空度为1×10-3pa~3×10-3pa,熔炼炉室真空度为3×10-3pa~8×10-3pa。

4.根据权利要求1所述的高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,步骤s2中,依次采用直径为120mm、100mm及80mm的锻造模具进行三次镦拔变形;

5.根据权利要求1所述的高纯细晶钽靶材的制备方法,其特征在于,步骤s3中,所述第一热处理的条件包括:热处...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨永杰姚惠龙董帝王玲陆海涛尹志锋张树勇吴立新齐素伟王彦胜
申请(专利权)人:安泰天龙钨钼科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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