【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光通信，尤其涉及一种光电元器件分析设备外形结构。
技术介绍
1、光电检测技术的基本原理是利用光子与物质的相互作用，通过测量光信号的强度、波长、相位等物理属性，获取被测物体的相关信息光电检测技术的基本原理是利用光子与物质的相互作用，通过测量光信号的强度、波长、相位等物理属性，获取被测物体的相关信息。
2、现有光电元器件分析仪结构采用纯钣金制作，结构笨重，整体装配缝隙较大，框架不稳定不易携带，且未考虑防静电和防屏蔽的能力。
技术实现思路
1、本技术目的是针对
技术介绍
中存在的现有光电元器件分析仪结构采用纯钣金制作，结构笨重，整体装配缝隙较大，框架不稳定不易携带，且未考虑防静电和防屏蔽的能力的问题，提出一种光电元器件分析设备外形结构。
2、本技术的技术方案：一种光电元器件分析设备外形结构，包括前面板以及上盖，所述前面板一侧与安装框体连接，所述安装框体一侧与后框架连接，所述后框架一侧与后面板连接，所述前面板两侧均设置侧下连接板以及侧上连接板，所述侧下连接板以及侧上连...
【技术保护点】
1.一种光电元器件分析设备外形结构，其特征在于，包括前面板(1)以及上盖(7)，所述前面板(1)一侧与安装框体(10)连接，所述安装框体(10)一侧与后框架(9)连接，所述后框架(9)一侧与后面板(8)连接，所述前面板(1)两侧均设置侧下连接板(2)以及侧上连接板(3)，所述侧下连接板(2)以及侧上连接板(3)一端与后框架(9)连接，所述前面板(1)底部设置用于对底板(11)进行卡接的卡槽一(13)，所述底板(11)后端卡接在卡槽二(14)内，所述卡槽二(14)设置在后框架(9)底部一侧；
2.根据权利要求1所述的一种光电元器件分析设备外形结构，其特征在于...
【技术特征摘要】
1.一种光电元器件分析设备外形结构，其特征在于，包括前面板(1)以及上盖(7)，所述前面板(1)一侧与安装框体(10)连接，所述安装框体(10)一侧与后框架(9)连接，所述后框架(9)一侧与后面板(8)连接，所述前面板(1)两侧均设置侧下连接板(2)以及侧上连接板(3)，所述侧下连接板(2)以及侧上连接板(3)一端与后框架(9)连接，所述前面板(1)底部设置用于对底板(11)进行卡接的卡槽一(13)，所述底板(11)后端卡接在卡槽二(14)内，所述卡槽二(14)设置在后框架(9)底部一侧；
2.根据权利要求1所述的一种光电元器件分析设备外形结构，其特征在于，所述安装框体(10)上设置与前面板(1)相对应的安装孔，所述安装框体(10)通过安装孔与前面板(1)连接。
3.根据权利要求1所述的一种光电元器件分析...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘子衿，陆宏铭，潘万胜，党兵阳，谈旭，
申请(专利权)人：苏州六幺四信息科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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