基于深度学习的X线测量后足力线角的方法及系统技术方案

技术编号:43617792 阅读:77 留言:0更新日期:2024-12-11 14:59
本发明专利技术公开了一种基于深度学习的X线测量后足力线角的方法及系统,涉及医学检测技术领域。该方法包括:获取并对后足力线位样本图像进行处理,以构建训练数据集;构建卷积神经网络模型,并基于训练数据集对卷积神经网络模型进行训练,以得到最终的卷积神经网络模型;获取并将患者的后足力线位X线片输入到最终的卷积神经网络模型中进行分割处理,输出分割结果;根据分割结果进行解剖轴线拟合,根据解剖轴线计算后足力线角。本发明专利技术可以实现基于X线影像及人工智能辅助诊断对后足畸形进行快速精准的诊断。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及医学检测,具体而言,涉及一种基于深度学习的x线测量后足力线角的方法及系统。


技术介绍

1、后足畸形是引起足部疼痛最常见病因之一,后足力线角度是评估后足畸形患者的重要指标之一,其测量方法和准确性对于临床诊断和治疗具有重要意义。影像学检查是评估后足力线角度的主要方法之一。通过x线、ct扫描等影像学手段,可以详细观察踝与后足的骨性结构,从而测量后足力线角度。例如,x线片可以显示踝与后足的骨性结构,而ct及其三维重建技术则能提供更详尽的解剖信息,有助于更准确地评估后足力线角度。此外,改良后的足力线拍摄方法和测量方法,如改良tha法,提高了测量的准确性和可重复性,为临床提供了更可靠的参考依据。

2、影像学是诊断足畸形的重要手段,虽然其也起到了一定的作用,但是目前一般是结合人工测量后足力线角度,其一致性较差。


技术实现思路

1、为了克服上述问题或者至少部分地解决上述问题,本专利技术提供一种基于深度学习的x线测量后足力线角的方法及系统,可以实现基于x线影像及人工智能辅助诊断对后足畸形进行快速精准的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于深度学习的X线测量后足力线角的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的X线测量后足力线角的方法,其特征在于,所述获取并对后足力线位样本图像进行处理,以构建训练数据集的方法包括以下步骤:

3.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的X线测量后足力线角的方法,其特征在于,所述构建卷积神经网络模型的方法包括以下步骤:

4.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的X线测量后足力线角的方法,其特征在于,所述基于训练数据集对卷积神经网络模型进行训练,以得到最终的卷积神经网络模型的方法包括以下步骤:p>

5.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种基于深度学习的x线测量后足力线角的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的x线测量后足力线角的方法,其特征在于,所述获取并对后足力线位样本图像进行处理,以构建训练数据集的方法包括以下步骤:

3.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的x线测量后足力线角的方法,其特征在于,所述构建卷积神经网络模型的方法包括以下步骤:

4.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的x线测量后足力线角的方法,其特征在于,所述基于训练数据集对卷积神经网络模型进行训练,以得到最终的卷积神经网络模型的方法包括以下步骤:

5.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的x线测量后足力线角的方法,其特征在于,所述将患者的后...

【专利技术属性】
技术研发人员:王丽丽方军杰刘晓鸣陈斌张景峰俞学强王狄森
申请(专利权)人:宁波市第二医院
类型:发明
国别省市:

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