用于触控装置的侦测触碰位置的方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：提供一触控装置，该触控装置具有第一导电层和设置在第一导电层的一侧边的多个感测电极，这些感测电极彼此相间隔；提供第一电压到第一导电层；触碰触控装置而使第一导电层的一区域的第一电压被改变，其中该区域是对应触碰触控装置的触碰处，触碰处具有一触碰位置；量测这些感测电极而得到多个电压信号；依据这些电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和依据第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中第二感测位置等于触碰位置，校正模式具有一第一曲线关系。该用于触控装置的侦测触碰位置的方法可有效避免误差的产生。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，且特别指一种用于电阻式 触控装置的侦测触碰位置的方法。
技术介绍
请参阅图1，是现有技术电阻式触控装置的剖面示意图。该电阻式触控装置10主 要包括一第一导电层12、一第二导电层14和多个间隔球(Spacer) 16，这些间隔球16位于 第一导电层12和第二导电层14之间，以将第一导电层12和第二导电层14分开，避免无触 碰时造成短路而产生错误动作。第一导电层12和第二导电层14分别负责侦测触碰处的不 同轴向的位置，例如第一导电层12负责侦测X轴向的位置，第二导电层14负责侦测Y轴向 的位置。在操作时，第一导电层12和第二导电层14分别被施以一不同电压，当使用者碰触 触控装置10时，第一导电层12的对应触碰处的区域和第二导电层14的对应触碰处的区域 将接触而使第一导电层12和第二导电层14分别产生电压变化，通过侦测第一导电层12的 电压变化可得知触碰处在X轴向的位置，以及通过侦测第二导电层14的电压变化可得知触 碰处在Y轴向的位置。在理想状态下，触控装置10侦测到的触碰处的位置应等于触碰处的实际位置，但 由于第一导电层12中的导电线路间之间距、第二导电层14中的导电线路间之间距和所使 用的数据处理方法等影响，将产生误差，造成侦测到的触碰处的位置与触碰处的实际位置 不相同。
技术实现思路
为了解决现有技术中易产生误差的问题，有 必要提供一种可有效避免误差产生的。一种，其包括提供一触控装置，该触控装置 具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一侧边的多个感测电极，该感测电极彼此相间 隔；提供一第一电压到该第一导电层；触碰该触控装置而使该第一导电层的一区域的该第 一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一触碰位置；量 测该感测电极而得到多个电压信号；依据该电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位 置；和依据该第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于 该触碰位置，该校正模式具有一第一曲线关系。另外，一种，其包括提供一触控装置，该触 控装置具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一第一侧边的多个感测电极，该感测电 极彼此相间隔；提供一第一电压到该第一导电层；触碰该触控装置而使该第一导电层的一 区域的该第一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一 触碰位置；量测该感测电极而得到多个电压信号，其中该电压信号包括一极值电压信号、一第一电压信号和一第二电压信号，该感测电极包括一第一感测电极、一第二感测电极和一 第三感测电极，该第一电压信号自该第一感测电极而得出，该极值电压信号自该第二感测 电极而得出，该第二电压信号自该第三感测电极而得出，该第二感测电极位于该第一感测 电极与该第三感测电极之间，并且该第二感测电极分别与该第一感测电极和该第三感测电 极相邻；依据一电压调整模式调整该第二电压信号而得一修正电压信号；依据该第一电压 信号、该极值电压信号、该修正电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和依据该 第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于该触碰位置， 该校正模式具有一第一曲线关系。综上所述，由于本专利技术的实施例的该侦测该触碰位置的方法是利用该位置估算模 式来产生该第一感测位置，再利用该校正模式来修正该第一感测位置而产生该第二感测位 置，此时，该第二感测位置将等于该触碰位置，因此定位出该触碰处的X值，侦测出该触碰 处的位置，解决了现有的误差问题。附图说明图1是一种现有技术电阻式触控装置的剖面示意图。图2是本专利技术实施例所应用的触控装置的剖面示意图。图3是图2所示触控装置的第一导电层和第二导电层的相对位置示意图。图4是本专利技术的一实施例的侦测触碰位置的方法的流程图。图5是第一 X轴向感测位置与X轴向触碰位置的坐标示意图。具体实施例方式请参阅图2，是本专利技术的实施例所应用的触控装置的剖面示意图。该触控装置20 包括相对设置的一第一基板22、一第二基板24、一第一导电层26、一第二导电层28和多个 间隔球30。第一基板22 —般为聚酯膜，第二基板24 —般为玻璃基板，第一导电层26设置 在第一基板22的面对第二基板24的表面，第二导电层28设置在第二基板24的面对第一 基板22的表面，第二导电层28与第一导电层26相迭合，这些间隔球30设置在第一导电层 26和第二导电层28之间，具绝缘和支撑作用，以使第一导电层26和第二导电层28在触控 装置20未被按压的状态下保持电分离状态。请参阅图3，是该触控装置20的第一导电层26和第二导电层28的相对位置示意 图。触控装置20进一步具有设置在第一导电层26的一第一侧边32的多个感测电极34， 这些感测电极34彼此相间隔，以及设置在第二导电层28的一侧边36的多个感测电极38， 这些感测电极38彼此相间隔，第二导电层28设置有该感测电极38的侧边36是邻近第一 导电层26的第一侧边32的一第二侧边40。第一导电层26具有阻抗异向性，例如为一碳 纳米管膜，其导电方向大致平行Y轴方向；第二导电层28具有阻抗异向性，例如为一碳纳米 管膜，其导电方向大致平行X轴方向。此外，第一导电层26具有一边界区42和一非边界区 44。边界区42是位于一第一线A和一第二线B之间。第一线A是自这些感测电极34中最 靠近第二侧边40的感测电极(自该第二侧边数第一个感测电极)延伸且平行第二侧边40 ； 第二线B自这些感测电极34中与最靠近第二侧边40的感测电极相邻和相间的两感侧电极 的正中间(自第二侧边40数第二个感测电极和第三个感测电极间的正中间)延伸且平行第二侧边40。非边界区44为第二线B到第一导电层26的一第三侧边45间的区域。第三 侧边45与第二侧边40相对，同理，第二导电层28也具有一边界区46和一非边界区48。请参阅图4，是本专利技术的一实施例的侦测触碰位置的方法的流程图。本实施例揭露 一种用于上述的触控装置20的侦测触碰位置的方法，使用者触碰触控装置20的触碰处的 位置是以XY平面坐标系统表示，因此目前的触碰处具有一 X轴向触碰位置和一 Y轴向触碰 位置。第一导电层26的感测电极34是用以侦测该触碰处的该X轴向触碰位置；第二导电 层28的这些感测电极38是用以侦测该触碰处的该Y轴向触碰位置。以下先以侦测该X轴 向触碰位置的方法进行说明，侦测该X轴向触碰位置的方法为步骤SlO 提供一第一电压，例如0伏特，到第一导电层26上的这些感测电极34， 使第一导电层26布满该第一电压，以及提供一不同于该第一电压的第二电压，例如5伏特， 到第二导电层28上的这些感测电极38，使第二导电层28布满该第二电压；步骤S15 触碰触控装置20而使第一导电层26的对应的该触碰处的区域，即被按 压的区域，接触第二导电层28的对应该触碰处的区域，即被第一导电层26的该被按压的区 域所碰触的区域，致使第一导电层26的对应该触碰处的区域的该第一电压被改变；步骤S20 依序量测设置在第一导电层26上的这些感测电极34而得到多个电压 信号；步骤S25 依据该电压信号和一位置估算模式而得一第一 X轴向感测位置；和步骤S30 依据该第一 X轴向感测位置和一校正模式而得一第二 X轴向感测位置， 其中该第二X轴向感测位置等于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：提供一触控装置，其具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一侧边的多个感测电极，该感测电极彼此相间隔；提供一第一电压到该第一导电层；触碰该触控装置而使该第一导电层的一区域的该第一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一触碰位置；量测该感测电极而得到多个电压信号；依据该电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和依据该第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于该触碰位置，该校正模式具有一第一曲线关系。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈柏仰，施博盛，
申请(专利权)人：群康科技深圳有限公司，群创光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]