一种碳化硅结型场效应管制造技术

技术编号:43601557 阅读:19 留言:0更新日期:2024-12-11 14:49
本技术公开的一种碳化硅结型场效应管,属于场效应管技术领域;包括N型碳化硅衬底、N型碳化硅外延层,所述N型碳化硅衬底部设置漏极导电层,N型碳化硅外延层顶部两侧设置有P+注入区,P+注入区内设置N+注入区,P+注入区顶部设置有与N+注入区对应的源极导电层,两个源极导电层之间设置有栅极导电层,栅极导电层底部设置栅极条,栅极条下方设置氧化层,氧化层抵压置于两个P+注入区之间,通过栅极导电层与P+注入区两侧接触,P+注入区将N+注入区包围,在N+注入区在P+注入区上形成隔绝体,可有效防止栅极导电层与N+注入区直接接触,通过P+注入区将N+注入区包围,并且利用下外延层和N+注入区之间的绝缘层,有效的隔绝了载流子的跃迁。

【技术实现步骤摘要】

本技术是一种碳化硅结型场效应管,属于场效应管。


技术介绍

1、碳化硅场效应管是新型的半导体器件,它具有高温高频高压、高功率等优点,被广泛应用于电力电子、航空航天、军事等领域,碳化硅场效应管的工作原理是利用pn结的电场控制电流,当控制电极施加一定的电压时,可以改变pn结的电场分布,从而控制电流的大小。与传统的硅基场效应管相比,碳化硅场效应管具有更高的电子迁移率和更低的电阻,因此可以承受更高的电压和电流,同时也具有更高的开关速度和更低的开关损耗,现有的碳化硅结型场效应管省去传统平面型碳化硅器件jfet注入,通常设置第二层n型碳化硅外延层,使第二层n型碳化硅外延层与两侧的p+注入区接触,例如公开号cn116741806a公开了一种高可靠型的碳化硅场效应管结构及其制造工艺,其包括n型碳化硅衬底,外延层包括由下至上依次层叠的第一n型碳化硅外延层和第二n型碳化硅外延层,在第一n型碳化硅外延层的上表面上还设有绝缘层,绝缘层上设有p+注入区和n+注入区,该专利在使用时会存在以下缺陷:

2、由于第二层n型碳化硅外延层与两侧的p+注入区接触,栅极导电层与p+注入区本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种碳化硅结型场效应管,包括N型碳化硅衬底(6)、N型碳化硅外延层(5),所述N型碳化硅衬底(6)部设置漏极导电层(7),N型碳化硅外延层(5)顶部两侧设置有P+注入区(4),其特征在于:P+注入区(4)内侧设置N+注入区(2),P+注入区(4)顶部设置有与N+注入区(2)对应的源极导电层(1),两个源极导电层(1)之间设置有栅极导电层(3),栅极导电层(3)底部设置栅极条(9),栅极条(9)下方设置氧化层(8),氧化层(8)抵压置于两个P+注入区(4)之间。

2.根据权利要求1所述的一种碳化硅结型场效应管,其特征在于:所述N型碳化硅外延层(5)包括上外延层(5.1)、下...

【技术特征摘要】

1.一种碳化硅结型场效应管,包括n型碳化硅衬底(6)、n型碳化硅外延层(5),所述n型碳化硅衬底(6)部设置漏极导电层(7),n型碳化硅外延层(5)顶部两侧设置有p+注入区(4),其特征在于:p+注入区(4)内侧设置n+注入区(2),p+注入区(4)顶部设置有与n+注入区(2)对应的源极导电层(1),两个源极导电层(1)之间设置有栅极导电层(3),栅极导电层(3)底部设置栅极条(9),栅极条(9)下方设置氧化层(8),氧化层(8)抵压置于两个p+注入区(4)之间。

2.根据权利要求1所述的一种碳化硅结型场效应管,其特征在于:所述n型碳化硅外延层(5)包括上外延层(5.1)、下...

【专利技术属性】
技术研发人员:胥超陈智刘宏森
申请(专利权)人:深圳市宇宏微电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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