一种根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法及产品技术

技术编号:43588850 阅读:17 留言:0更新日期:2024-12-06 17:53
本发明专利技术公开了一种根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法及产品,该方法基于均匀磁场实现,包括:接收发射装置射出待研究粒子,建立以粒子出发点为坐标系原点的正交直角坐标系,获取粒子到达的终点位置坐标;计算粒子的最大回旋半径,根据终点在XY平面内的投影与原点的距离是否大于最大回旋半径,判断是否具有粒子初始参数;当具有粒子初始参数,计算粒子能到达终点的最小周期数,取超过最小周期数的不同周期数,得到一组粒子初始参数,并从中筛选符合的粒子初始参数;分别以每个粒子初始参数计算发射的粒子运动轨迹,得到一组粒子运动轨迹,分别与终点位置坐标之间的最小距离计算偏差;取最小偏差对应的粒子初始参数为最终结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于空间粒子传输,尤其涉及一种根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法及产品


技术介绍

1、地球空间粒子传输技术日益引起关注。根据观测位置的粒子特征,给出源区粒子初始参数,使得从源区出发的粒子能够精确到达终点。此项技术的难点在于地球空间中的磁场是非均匀的,粒子的运动轨迹是非解析的,因此要找到精确的源区粒子初始参数是一件非常困难的事情。为解决此问题,一种常见的策略穷举出所有可能的源区粒子初始参数。这种策略将带来巨大的计算量和计算时间,迫切需要一种方法能够在均匀场中评估源区粒子初始参数,为迭代出最优的初始参数进行初步的筛选,这样的方法能够极大的减少计算量并节省计算时间。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术缺陷,提出了一种根据观测位置特征评估源区粒子初始参数的计算方法。

2、为了实现上述目的,本专利技术提出了一种根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,基于均匀磁场实现,包括:

3、步骤1)接收发射装置射出待研究粒子,建立以待研究粒子出发点为坐标系原点的正交直本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,基于均匀磁场实现,包括:

2.根据权利要求1所述的根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,其特征在于,所述步骤1)包括:

3.根据权利要求2所述的根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,其特征在于,所述步骤2)粒子的最大回旋半径Rb为:

4.根据权利要求3所述的根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,其特征在于,所述步骤3)粒子能到达终点的最小周期数Nmin为:

5.根据权利要求4所述的根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,其特征在于,所述步骤3)取超过最小周期数的不同周...

【技术特征摘要】

1.一种根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,基于均匀磁场实现,包括:

2.根据权利要求1所述的根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,其特征在于,所述步骤1)包括:

3.根据权利要求2所述的根据观测位置特征获取源区粒子初始参数的方法,其特征在于,所述步骤2)粒子的最大回旋半径rb为:

4.根据权利要求3所述的根据观测位置特征获...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱昌波张贤国王丽
申请(专利权)人:中国科学院国家空间科学中心
类型:发明
国别省市:

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