【技术实现步骤摘要】
本专利技术申请涉及超声波检测陶瓷材料缺陷，尤其涉及基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法。
技术介绍
1、超声扫描显微镜是一种利用超声波成像技术进行缺陷检测的工具，实现了非破坏性检测和评估。陶瓷材料在生产和使用过程中，可能会因为配方不当、工艺不完善等原因产生各种缺陷，如裂纹、空洞等，这些缺陷会严重影响陶瓷材料的性能和使用寿命。基于超声波的透射、反射和折射性质，当超声波穿过陶瓷材料遇到内部结构不同的材料交合面时，会形成不同强度的回波。这些回波被接收器捕获并转化为电信号，经过处理后生成陶瓷材料内部的成像图，从而实现对缺陷的定性和定量分析。
2、现有技术中，通过调整超声扫描显微镜的参数，收集超声波在材料内部传播时产生的反射或折射波，进而得到材料内部的图像，据此对缺陷进行检测和评估，实现检测准确性的提高。
3、例如公告号为：cn112305077b的专利技术专利公告的一种轴承表面涂层与基体界面结合质量的无损检测方法，包括以下步骤：利用超声波扫描显微镜进行a-扫描，通过反射回波确定表面涂层与基体结合位置，在表面涂层与基体结合位置开展c-扫描，在c-扫描视图上确定质量合格位置和可疑位置，通过结合a-扫描、b-扫描的底部回波分析判定缺陷部位。
4、例如公告号为：cn106226398b的专利技术专利公告的一种pdc复合片结合面质量的无损检测方法，包括以下步骤：1)将pdc复合片的金刚石层朝上，水平浸于水中；2)对pdc复合片进行a-扫描，调节换能器的位置，使pdc复合片位于换能器的焦点；根据a-扫描的反射
5、但本申请在实现本申请实施例中专利技术技术方案的过程中，发现上述技术至少存在如下技术问题：
6、现有技术中，检测过程中需要根据陶瓷材料的特性和检测需求设置合适的参数，超声扫描显微镜的超声波受环境因素的影响,可能无法准确检测到缺陷或导致误判，存在通过超声扫描显微镜进行陶瓷材料缺陷检测时数据准确性低的问题。
技术实现思路
1、本申请实施例通过提供基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，解决了现有技术中通过超声扫描显微镜进行陶瓷材料缺陷检测时数据准确性低的问题，实现了更准确的通过超声扫描显微镜进行陶瓷材料的缺陷检测。
2、本申请提供了基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，包括以下步骤：s1，对超声扫描显微镜进行预实验得到扫描面积，根据扫描面积和待检测材料的总面积对超声扫描显微镜的数量进行评估，得到超声扫描显微镜的最佳数量，并采用传感器实时记录环境数据，所述扫描面积包括重复面积和不重复面积，所述环境数据包括温度和湿度；s2，对超声扫描显微镜进行性能检测得到性能评估值，所述性能检测包括温度检测和湿度检测，所述性能检测用于评估环境因素对超声扫描显微镜性能的影响程度；s3，判断性能评估值是否符合预设工作标准，若符合，则执行s4，否则对超声扫描显微镜的扫描参数进行调整后返回s2，直至性能评估值符合预设工作标准，所述扫描参数包括超声波频率、增益、扫描速度和扫描分辨率；s4，通过部署的超声扫描显微镜采集待检测材料的缺陷数据，并根据缺陷数据得到待检测材料的缺陷系数，所述缺陷数据表示待检测材料缺陷的物理特性数据，所述缺陷数据包括缺陷深度和缺陷面积，所述缺陷系数用于量化待检测材料的缺陷程度。
3、进一步的，预实验的具体流程如下：a1，从预设数据库中获取待检测材料的总面积和超声扫描显微镜的扫描分辨率，并通过超声扫描显微镜对待检测材料进行扫描得到材料表面的材料图像数据；a2，通过图像配准算法将所有材料图像数据在预设坐标系中对齐，据此得到材料图像数据的交集并记为重复区域，将材料图像数据与重复区域的差集记为图像中的不重复区域，并分别通过编号后的每个重复区域和不重复区域的像素点得到重复面积和不重复面积；a3，根据扫描面积和待检测材料的总面积得到超声扫描显微镜的覆盖指数，所述覆盖指数用于衡量材料图像数据的总覆盖面积与待检测材料的总面积的符合程度；a4，判断覆盖指数是否不小于0，若不小于0，则执行a5，否则增加超声扫描显微镜的数量，直至覆盖指数不小于0；a5，判断覆盖指数是否大于预设覆盖指数，若大于预设覆盖指数，则减少超声扫描显微镜的数量，直至覆盖指数不大于预设覆盖指数，否则确定当前超声扫描显微镜的数量为最佳数量，所述预设覆盖指数表示材料图像数据的总覆盖面积与待检测材料的总面积的参考符合程度；所述覆盖指数通过以下公式进行计算：
4、
5、式中，q表示预实验的编号，q＝1,2,...,q，q表示预实验的总次数，q.n表示第q次预实验中不重复区域的编号，q.n＝q.1,q.2,...,q.n，q.n表示第q次预实验中不重复区域的总数量，q.m表示第q次预实验中重复区域的编号，q.m＝q.1,q.2,...,q.m，q.m表示第q次预实验中重复区域的总数量，bcq.n表示第q次预实验中超声扫描显微镜扫描的第q.n个不重复区域的不重复面积，cfq.m表示第q次预实验中超声扫描显微镜扫描的第q.m个重复区域的重复面积，a表示待检测材料的总面积，fgq表示第q次预实验中超声扫描显微镜的覆盖指数，n是正整数，m是正整数。
6、进一步的，性能检测的具体流程如下：对超声扫描显微镜进行温度检测获取第一检测数据，并对获取的第一检测数据进行有序排列得到温度序列，所述第一检测数据表示温度检测下超声扫描显微镜的性能数据，所述第一检测数据包括第一图像噪音、第一图像分辨率、第一扫描时间、第一扫描速度和第一超声波频率；对超声扫描显微镜进行湿度检测获取第二检测数据，同时对获取的第二检测数据进行有序排列得到湿度序列，所述第二检测数据表示湿度检测下超声扫描显微镜的性能数据，所述第二检测数据包括第二图像噪音、第二图像分辨率、第二扫描时间、第二扫描速度和第二超声波频率。
7、进一步的，第一检测数据的具体获取方法如下：b1，在预设时间段的预设时间点内通过超声扫描显微镜检测采集待检测材料的第一内部图像，所述超声扫描显微镜处于第一模拟环境中；b2，通过图像分析软件提取第一内部图像中的第一图像数据，将第一图像数据与对应的时间戳进行整合得到第一图像序列，所述第一图像数据包括第一图像噪音、第一图像分辨率；b3，通过计时器实时记录第一扫描时间，并结合第一内部图像的面积得到第一扫描速度，所述第一扫描时间表示温度检测中超声扫描显微镜扫描所花费的时间；b4，通过频谱分析仪得到超声扫描显微镜的第一超声波频率。
8、进一步的，第二检测数据的具体获取方法如下：c1，在预设时间段的预设时间点内通过超声扫描显微镜检测采集待检测材料的第二内部图像，所述超声扫描显微镜处于第二模拟环境中；c2，通过图像分析软件提取第二内部图像中的第二图像数据，将第二图像数据与对应的时间戳进行整合得到第二图像序列，所述第二图像数据包括第二图像噪音、第二图像分辨率；c3，通过计时器实时记录第二本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述预实验的具体流程如下：
3.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述性能检测的具体流程如下：
4.如权利要求3所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述第一检测数据的具体获取方法如下：
5.如权利要求4所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述第二检测数据的具体获取方法如下：
6.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述对超声扫描显微镜进行性能检测得到性能评估值，之前还包括获取超声扫描显微镜的图像质量系数、超声波穿透力和扫描质量系数；
7.如权利要求6所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述超声波穿透力的具体获取方式如下：
8.如权利要求6所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述扫描质量系数的具体获
9.如权利要求8所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述性能评估值的具体获取方式如下：
10.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述缺陷系数的具体获取方式如下：
...【技术特征摘要】
1.基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述预实验的具体流程如下：
3.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述性能检测的具体流程如下：
4.如权利要求3所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述第一检测数据的具体获取方法如下：
5.如权利要求4所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，其特征在于，所述第二检测数据的具体获取方法如下：
6.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨加国，
申请(专利权)人：无锡圣堂科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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