基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法技术

技术编号:43579320 阅读:24 留言:0更新日期:2024-12-06 17:45
本发明专利技术申请公开了基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,涉及超声波检测陶瓷材料缺陷技术领域。该基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,包括以下步骤:S1,预实验;S2,性能检测;S3,判断性能评估值;S4,获取缺陷系数。本发明专利技术申请通过预实验确定超声扫描显微镜的最佳数量,然后对超声扫描显微镜进行性能检测,接着调整超声扫描显微镜的扫描参数直至性能评估值符合预设工作标准,最后通过超声扫描显微镜采集待检测材料的缺陷数据,据此得到缺陷系数,达到了更准确的通过超声扫描显微镜进行陶瓷材料的缺陷检测的效果,解决了现有技术中存在通过超声扫描显微镜进行陶瓷材料缺陷检测时数据准确性低的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术申请涉及超声波检测陶瓷材料缺陷,尤其涉及基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法


技术介绍

1、超声扫描显微镜是一种利用超声波成像技术进行缺陷检测的工具,实现了非破坏性检测和评估。陶瓷材料在生产和使用过程中,可能会因为配方不当、工艺不完善等原因产生各种缺陷,如裂纹、空洞等,这些缺陷会严重影响陶瓷材料的性能和使用寿命。基于超声波的透射、反射和折射性质,当超声波穿过陶瓷材料遇到内部结构不同的材料交合面时,会形成不同强度的回波。这些回波被接收器捕获并转化为电信号,经过处理后生成陶瓷材料内部的成像图,从而实现对缺陷的定性和定量分析。

2、现有技术中,通过调整超声扫描显微镜的参数,收集超声波在材料内部传播时产生的反射或折射波,进而得到材料内部的图像,据此对缺陷进行检测和评估,实现检测准确性的提高。

3、例如公告号为:cn112305077b的专利技术专利公告的一种轴承表面涂层与基体界面结合质量的无损检测方法,包括以下步骤:利用超声波扫描显微镜进行a-扫描,通过反射回波确定表面涂层与基体结合位置,在表面涂层与基体结合位置开展c-扫描本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述预实验的具体流程如下:

3.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述性能检测的具体流程如下:

4.如权利要求3所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述第一检测数据的具体获取方法如下:

5.如权利要求4所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述第二检测数据的具体获取方法如下:

6.如权利要求1所述基于超声扫...

【技术特征摘要】

1.基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述预实验的具体流程如下:

3.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述性能检测的具体流程如下:

4.如权利要求3所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述第一检测数据的具体获取方法如下:

5.如权利要求4所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,其特征在于,所述第二检测数据的具体获取方法如下:

6.如权利要求1所述基于超声扫描显微镜的缺陷检测数据评估方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨加国
申请(专利权)人:无锡圣堂科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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