【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试领域,尤其涉及一种基于ate测试数据与图表的转化方法。
技术介绍
1、ate技术是集成电路测试领域的关键技术,它通过运行一系列预定义的测试pattern,对集成电路进行快速、准确的测试。然而,现有的ate设备在处理大量测试数据时,往往只能提供简单的统计结果,难以从中提取出有规律的数据。为了提高集成电路测试数据的处理效率,数据分析与挖掘技术在集成电路测试领域得到了广泛应用。然而,现有的数据分析方法在处理复杂测试数据时,往往需要较长的时间进行计算,且难以找到数据之间的规律性。通过将测试数据转化为数字模型,可以更直观地展示数据之间的规律。然而,现有的数字模型构建方法往往需要专业人员根据经验进行选择和调整,且无法根据需求灵活展示不同维度的图表。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于如何从各种复杂的数据中,快速提炼出规律的数据,从来形成图表。
2、本专利技术提供一种基于ate测试数据与图表的转化方法,包括:
3、根据预设条件提取目标数据;
< ...【技术保护点】
1.一种基于ATE测试数据与图表的转化方法,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的基于ATE测试数据与图表的转化方法,其特征在于,在所述根据预设条件提取目标数据中,所述预设条件包括模板条件和格式条件,根据所述模板条件及格式条件提取目标数据。
3.如权利要求2所述的基于ATE测试数据与图表的转化方法,其特征在于,所述模板条件包括一种或多种预设数据模板,当测试数据中包括所述预设数据模板时,提取对应数据为所述目标数据。
4.如权利要求3所述的基于ATE测试数据与图表的转化方法,其特征在于,所述预设数据模板包括通信协议、数据字段、数据结
...【技术特征摘要】
1.一种基于ate测试数据与图表的转化方法,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的基于ate测试数据与图表的转化方法,其特征在于,在所述根据预设条件提取目标数据中,所述预设条件包括模板条件和格式条件,根据所述模板条件及格式条件提取目标数据。
3.如权利要求2所述的基于ate测试数据与图表的转化方法,其特征在于,所述模板条件包括一种或多种预设数据模板,当测试数据中包括所述预设数据模板时,提取对应数据为所述目标数据。
4.如权利要求3所述的基于ate测试数据与图表的转化方法,其特征在于,所述预设数据模板包括通信协议、数据字段、数据结构、数据约束、数据关系及自定义模板。
5.如权利要求2所述的基于ate测试数据与图表的转化方法,其特征在于,所述格式条件包括一种或多种预设数据格式,当测试数据中满足所述预设数据格式时,提取对应数据为所述目...
【专利技术属性】
技术研发人员:沈月林,曾海燕,胡婷婷,朱小荣,
申请(专利权)人:上海御渡半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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