【技术实现步骤摘要】
本专利技术设计的是基于耦合谐振环的太赫兹超构波导薄膜传感器,可用于医疗诊断、工厂自动化生产及环境监测等领域。
技术介绍
1、传统光波导器件作为光学传感领域的常用器件,因其具有高灵敏度、优异的稳定性以及出色的抗电磁干扰能力而受到广泛应用。然而,由于波导传感器的设计往往依赖于一定长度的波导结构,这不可避免地导致了器件尺寸的增大。此外,光波导器件的制造过程涉及特殊材料和精细工艺,对加工设备和技术要求较高,导致生产成本增加,工艺控制难度提升。随着技术进步,为了在硅基平台上实现更多功能集成并提升空间利用效率,提高光波导器件的集成度迫在眉睫。然而,传统方法受到衍射极限的约束,面临着固有的局限性。随着加工技术的迅猛发展,特别是微纳光学领域的超表面技术备受研究者关注,这为光波导器件的设计提供了新的思路,促使研究者们将亚波长结构引入光学集成器件设计中。
2、太赫兹超表面是一种由人工制造的亚波长结构,其结构尺度远小于太赫兹波长,展现出对太赫兹波独特的响应特性。这些超表面通常由金属或半导体微结构组成,通过调整微结构排列方式,可以对太赫兹波进行有效
...【技术保护点】
1.基于耦合谐振环的太赫兹超构波导薄膜传感器;其特征是:它由a个单元结构组成,波导总长度为L1;单元结构由底层铜金属板1,中间介电层2,顶层方圆型铝制谐振环3组成,周期为p,其中底层铜金属板的厚度为h1,中间介电层高度为h2,顶层方圆型铝制谐振环厚度为h3,整个结构的最上层覆盖折射率可变的待测物,厚度为d。
2.根据权利要求1所述的基于耦合谐振环的太赫兹超构波导薄膜传感器,其特征是:整体结构从下到上分别为底层铜金属板,中间介电层和顶层方圆型铝制谐振环;铜金属板的电导率为5.96×107Sm-1,中间介电层的介电常数为3.75,顶层方圆型铝制谐振环的电导率为
...【技术特征摘要】
1.基于耦合谐振环的太赫兹超构波导薄膜传感器;其特征是:它由a个单元结构组成,波导总长度为l1;单元结构由底层铜金属板1,中间介电层2,顶层方圆型铝制谐振环3组成,周期为p,其中底层铜金属板的厚度为h1,中间介电层高度为h2,顶层方圆型铝制谐振环厚度为h3,整个结构的最上层覆盖折射率可变的待测物,厚度为d。
2.根据权利要求1所述的基于耦合谐振环的太赫兹超构波导薄膜传感器,其特征是:整体结构从下到上分别为底层铜金属板,中间介电层和顶层方圆型铝制谐振环;铜金属板的电导率为5.96×107sm-1,中间介电层的介电常数为3.75,顶层方圆型...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈明,宋雨晴,储茜茜,王伟,胡旭东,胡婷,
申请(专利权)人:桂林电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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