存储装置的修复方法及存储装置的修复系统制造方法及图纸

技术编号:43470030 阅读:11 留言:0更新日期:2024-11-27 13:08
本申请提供一种存储装置的修复方法及存储装置的修复系统,存储装置包括存储阵列和冗余存储阵列,其中,冗余存储阵列中的冗余存储单元用于修复替换存储阵列中的失效存储单元,修复方法包括获取存储阵列中的失效存储单元的位置信息,其中,位置信息包括第一方向位置信息和第二方向位置信息;基于失效存储单元的位置信息,构建第一集合和第二集合,并构建二分图,其中,第一集合为失效存储单元的第一方向位置信息的集合,第二集合为失效存储单元的第二方向位置信息的集合;获取二分图的最大匹配的目标失效点,并基于目标失效点确认修复策略。通过上述的方式,能够提高存储装置中失效存储单元的修复率以及提高存储装置量产的合格率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及存储,特别涉及一种存储装置的修复方法及存储装置的修复系统


技术介绍

1、动态随机存储器(dynamic random access memory,dram)芯片作为一种存储装置,凭借结构简单、集成度高以及功耗低等优势,现已广泛应用于手机、电脑、服务器等设备,在消费电子领域发挥了重要作用。在dram芯片制造工艺中,dram芯片的存储阵列中可能会出现失效的存储单元,为了应对这种情况,在dram芯片设计时会预留一部分冗余存储区域,例如包括多个冗余存储单元的冗余存储阵列,用于替换存储阵列中失效的存储单元,以保证dram芯片能够正常使用。目前,现有的用于修复存储阵列中失效存储单元的方法通过对失效存储单元数量的统计及排序,然后针对某一方向,将该方向的冗余资源全部用完之后,再进行另一方向的修复,这种修复方法的修复效果不佳,并且无法保证最终使用的冗余资源最少,造成冗余资源的浪费。因此如何利用有限的冗余资源尽可能修复更多的失效的存储单元,提高失效的存储单元的修复率十分重要。


技术实现思路

1、为了解决上述问题,本申本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储装置的修复方法,其特征在于,所述存储装置包括存储阵列和冗余存储阵列,其中,所述冗余存储阵列中的冗余存储单元用于修复替换所述存储阵列中的失效存储单元,所述修复方法包括:

2.根据权利要求1所述修复方法,其特征在于,所述获取所述二分图的最大匹配的目标失效点,并基于所述目标失效点确认修复策略,包括:

3.根据权利要求2所述的修复方法,其特征在于,所述获取所述二分图的最大匹配的目标失效点,包括:

4.根据权利要求3所述的修复方法,其特征在于,所述依序对所述第一集合中的第一元素分别按照有效路径寻找其在所述第二集合中的匹配第二元素,以所述第一元素和匹配...

【技术特征摘要】

1.一种存储装置的修复方法,其特征在于,所述存储装置包括存储阵列和冗余存储阵列,其中,所述冗余存储阵列中的冗余存储单元用于修复替换所述存储阵列中的失效存储单元,所述修复方法包括:

2.根据权利要求1所述修复方法,其特征在于,所述获取所述二分图的最大匹配的目标失效点,并基于所述目标失效点确认修复策略,包括:

3.根据权利要求2所述的修复方法,其特征在于,所述获取所述二分图的最大匹配的目标失效点,包括:

4.根据权利要求3所述的修复方法,其特征在于,所述依序对所述第一集合中的第一元素分别按照有效路径寻找其在所述第二集合中的匹配第二元素,以所述第一元素和匹配的所述第二元素构成所述目标失效点,包括:

5.根据权利要求4所述的修复方法,其特征在于,所述依序对所述第一集合中的第一元素分别按照有效路径寻找其在所述第二集合中的匹配第二元素,以所述第一元素和匹配的所述第二元素构成所述目标失效点,还包括:

6.根据权利要求2所述的修复方法,其特征在于,所述遍历所述目标...

【专利技术属性】
技术研发人员:张坤宁李卫
申请(专利权)人:兆易创新科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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